锥束CT平板探测器成像的余晖建模与校正方法.pdfVIP

物 理 学 报 Acta Phys. Sin. Vol. 62, No. 21 (2013) 210702 锥束 CT 平板探测器成像的余晖建模与校正方法* 黄魁东1)? 张定华1) 李明君1) 张华2) 1) ( 西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室, 西安 710072 ) 2) ( 西北工业大学机电学院, 西安 710072 ) ( 2013 年 7 月 4 日收到; 2013 年 7 月 19 日收到修改稿 ) 锥束 CT 具有高效率和高精度的显著特点, 在医学成像与工业无损检测等领域已得到广泛应用, 但余晖的存在 降低了 CT 图像的质量. 本文借鉴余晖多指数衰减模型的思想, 结合平板探测器输出信号的实际衰减规律, 提出了一 种新的基于多指数拟合的余晖衰减建模及校正方法. 首先进行了基于平板探测器的锥束 CT 成像实验, 结果表明平 板探测器各像素的余晖衰减规律具有良好的一致性, 且余晖衰减规律与初始灰度的大小无关; 其后根据建立的余晖 衰减模型实现了余晖的快速校正, 并分析比较了余晖校正前后投影图像和切片图像质量, 表明余晖校正后的零件轮 廓清晰度得到了显著提升. 该方法无需获取探测器闪烁体成分及其衰减时间常数, 便于实际锥束 CT 成像系统的余 晖检测与校正. 关键词: 余晖, 平板探测器, 锥束 CT, 多指数衰减 PACS: 07.85.Fv, 42.30.?d, 42.30.Wb, 87.57.Q? DOI: 10.7498/aps.62.210702 不同类型的探测器往往具有不同的制造工 1 引 言 艺和成像模式, 其余晖的大小通常也存在显著差 异 [6?8]. 探测器余晖的校正主要有硬件和软件两种 锥束 CT 利用锥形束射线源和面阵探测器采集 方法: 硬件方法为通过对闪烁体掺杂稀土材料来抑 被测物体的投影数据, 并根据相应算法重建出连续 制探测器衰减, 软件方法为采用补偿算法校正探测 的切片图像序列, 具有扫描速度快、切片内和切片 器衰减信号. 显然, 硬件方法只适用于探测器的制 间的空间分辨率相同、精度高等特点, 在医学成像 造商, 对于普通用户而言只能采用软件方法, 但软 与工业无损检测等领域已得到广泛应用 [1,2]. 件方法考虑的模型较复杂, 需结合探测器余晖机理 平板探测器是锥束 CT 中应用最广泛的成像 和大量试验进行测定. 文献 [9] 通过蒙特卡罗方法 部件. 平板探测器通过闪烁体将 X 射线转换成可 研究了 X 射线层析与照相组合系统中余晖对图像 见光, 再由光电二极管将可见光转换为电信号 [3]. 质量的影响; 文献 [10—12] 研究了基于平板探测器 几乎所有的固态闪烁体材料都表现出一定程度的 的放射治疗和 CT 高速 (实时) 成像系统中余晖的测 余晖衰减, 衰减曲线中存在多种衰减成分, 不同的 量方法与特性表现, 总体上平板探测器输出