第五章X射线粉末衍射及应用.PDFVIP

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第五章X射线粉末衍射及应用.PDF

2017/4/17 第一节 X射线衍射仪法 第五章 X射线粉末衍射及应用 样品竖直测角仪 第一节 X射线衍射仪法 第二节 粉末衍射物相分析 第三节 粉末衍射指标化 第四节 粉末衍射结构分析 第五节 粉末衍射的其它应用 样品水平型测角仪 ?、2?连动 衍射仪构造示意图 G – 测角仪圆 S – X射线源 D – 样品 H – 样品台 F – 接收狭缝 E – 支架 C – 计数管 K – 刻度尺 ?、?连动 粉末衍射要求样品是十分细小的粉末颗粒,使试样在 受光照的区域中有足够多数目的晶粒,且试样受光照区域 中晶粒的取向是随机的,以得到强度相对准确的衍射峰。 粉末衍射要求样品表面是尽可能平整的平面,制样过程 中,样品应尽可能地与样品板参考面平齐,以得到位置相对 准确的衍射峰。如样品高于参考面,测得的?值比真实值大, 衍射峰d值变小;反之d值变大。 1 2017/4/17 制样方法对衍射图的影响(SiO2,CuK?): 测定晶胞参数需注意的两个问题:

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