WI4201-02A
可 靠 度 测 试 规 范
可 靠 度 测 试 规 范
Reliability Test Specification编号
No.WI7308修订日期
Amendment Date版本
VersionV.01页次
Page
3发行日期
Release Date90.11.12 1.5 温度Derating 率NO组件名称温度判定标准备注1电阻电阻最高耐温之80﹪2电容电容最高耐温减5℃3半导体Schotty Diode 取Tj 之90﹪
其它半导体(晶体管MOSFET取Tj之80﹪)热暴走高温短路测试
Ta :55℃ Load :100﹪
Ta :65℃ Load :70﹪
Input :85V/265V时
(Tj*80﹪)+5℃为判定基 础4基板FR-4 : 115℃
CEM-3 : 110℃
CEM-1 : 100℃
XPC-FR : 100℃
判定:PCB 最大耐温减10℃与基板板厚无关5变压器
(含电感)绝缘区分: A种 E种 B种
标准温度: 105℃ 120℃ 130℃
热偶式 :
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