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粉体知识点整理教程
第一章 绪论
1.粉体学的重要意义(对应“粉体及其技术的重要性”)
粉体是许多材料构成、组分或原料;
粉体技术是制备材料的基础技术之一;
超细粉体材料,尤其是纳米粉体材料在新型材料的开发研究中越来越重要;
粉体容易大批量生产处理,产品质量均匀,成本低,控制精确,成为许多人工合成材料必然选择的合成方法。
2.颗粒的定义:是在一特定范围内具有特定形状的几何体。大小一般在毫米到纳米之间,颗粒不仅指固体颗粒,还有雾滴、油珠等液体颗粒。
3.粉体的定义:大量颗粒的集合体,即颗粒群,又称粉末(狭义的粉末是指粒度较小的部分)。
颗粒与粉体的关系:颗粒是粉体的组成单元,是粉体中的个体,是研究粉体的出发点。颗粒又总是以粉体这种集合体的形式出现,集合体产生了个体所所不具有的性质。
4.粉体学的特点:以粉体为研究对象,研究其性质及加工利用技术。
5.粉体技术包括:制备、加工、测试。制备有各种物理、化学、机械方法;加工作业有粉碎、分级、分散、混合、制粒、表面处理、流态化、干燥、成形、烧结、除尘、粉尘爆炸、输运、储存、包装等;测试对粉体各种几何、力学、物理、化学性能表征。
6.粉体的存在状态:通常所指的粉体是小尺寸的固体,但气体中的液滴、液体中的气泡也属于颗粒;固态的物质中又分为分散态和聚集态,多数粉体为分散态。
7.粉体的分类:
按照成因分类:天然粉体与人工粉体
按制备方法分类:机械粉碎法和化学法粉体
按分散状态分类:原级颗粒(一次颗粒)、聚集体颗粒(二次颗粒)、凝聚体颗粒(三次颗粒)、絮凝体颗粒
按颗粒大小(粒径)分类:粗粉体(0.5mm)、中细粉体(0.074~0.5mm)、细粉体(10~74μm)、微粉体(0.1~10 μm )、纳米粉体(100nm)
第二章 粉体的几何性质
1.粒度定义:粒度是指粉体颗粒所占空间的线性尺寸。
2.颗粒尺寸常用的表征方法:三轴径、定向径、当量径、
3.粉体平均粒径计算公式:
4.粒度分布及其表示方法:
粒度分布依据的统计基准:
个数基准分布(又称频度分布) 以每一粒径间隔内的颗粒数占颗粒总数的比例。
长度基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总长度占全部颗粒的长度总和的比例。
面积基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总表面积占全部颗粒的总表面积的比例。
重量基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总重量占全部颗粒的总重量的比例。
表征粒度分布的方法:列表法,作图法、矩值法和函数法。
其中函数法是最精确的粒度描述方法(即用概率理论或者近似函数的经验法莱寻找数学函数)
5.形状因子:为形状表征量,无量纲常数,有形状指数和形状系数。
形状指数 是指颗粒几何参数的无量纲组合。它与形状系数相比没有明确的物理意义。
形状系数:颗粒的表面积、体积、比表面积等几何参数与某种规定粒径dp的相应次方的比例关系。
6.常用粒度测量方法及其他优缺点:
筛分析法(一般40μm),其中最细的是400目,孔径为38μm;
优点:统计量大、代表性强;便宜;重量分布。
缺点:粒度下限为38μm;人为因素影响大;重复性差;非规则形状粒子误差;速度慢。
显微镜法:采用定向径方法测量。
光学显微镜0.25——250μm;电子显微镜 0.001——5μm;
优点:可直接观察粒子形状;可直接观察粒子团聚;光学显微镜便宜;
缺点:代表性差;重复性差;要测量投影面积直径;速度慢;
光衍射法粒度测试:根据小颗粒衍射角大,大颗粒衍射角小来测量,同时某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少关。
激光衍射0.05—500μm;X光小角衍射 0.002—0.1μm;
所用方法即为投射电子显微镜法;扫描电子显微镜法;
优点:可观察粒径小,图像富有立体感,较真实,易于识别,可观察微区,一般同时进行成分分析。
缺点:造价昂贵,试样制备要求严格,真空度要求严格
原子力显微镜(AFM):
x,y方向分辨率可达到2nm,垂直方向分辨率课达到小于0.1nm.
优点:AFM具有操作客易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点
缺点:与SEM相比,成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。
光散射法和消光法
光散射法原理:利用颗粒对激光的散射角度随颗粒粒度而改变的原理测定粒度分布。
消光法原理:通过测定经粉体散射和吸收后光强度在入射方向上衰减确定粒度。符合朗勃比尔定律。
优点:适用于气溶胶和液体分散系、非接触测定、精确给出粒度分布曲线和平均粒度、测定速度快;
电传感法粒度测试:当一个小颗粒通过小孔时所产生的电感应,即电压脉冲与颗粒的体积成正比;
水利分析法—沉降法(用于小于0.1mm物料粒度组成的测定)
测量原理:在具有一定粘度的粉末悬浊液内,大小不等的颗粒自由沉降时,其速度是不同的,颗粒越大沉降速度越快。大小不同的颗粒从同意起点高度同时沉降,经过一定距离(时间)后,几颗将粉
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