可测试设计多重描述与成本评价策略.pdfVIP

～、、一可测试设计多重描述与成本评价策略计硬件资源．诸如额外面积资灏、附加涮试引脚数及测试时间等，应当对模块的关键区黜行一、引言二、可蔫试设计技术多重描述方法扫描遇路技术应用到模块■入和■出口．那么可控射性和可观测性闯曩将同时得曼脚决．在模马季兰??瓯疚奶岢隽艘恢钟糜谥悄苎≡窨烧∈陨杓萍际醯亩鄑描述和成木评价方法．多重描述将拓扑描述、基于?綝??盯??τ肨?方式的前提是：各种现有的可测试设计?豻诩?仄嗣枋觯?嬖蚣?枋觯?植愎嬖蜷颐枋觯?杀酒兰郏?材苎〉?』基于知识的可测试设计专家系统需要寄存器传输级描述或任何其它描述作为辕?募???的是选择合适的可测试设计技术用于解决测试困难问题，寄存器传输级描述威任何其它描述通设计专家系统都以拓扑描述表示可测试设计技术．事实上．拓丰卜描述倩化了技术的特性，只能表示电路的部分信息。此外．拓扑描述将构成电路的模块看成一个整体．可测试设计技术不得不插入卦整个电路，而没有考虑电路本身固有的可测试性，结果将导致过多的可测试额外硬件本文提出了一种用于可测试设计专家系统的多重描述方法，多重描述包括拓扑描述、基于规则集描述和分层规则集描述，提出的多重描述方法可以表示可测试设计专家系统所需的各种描述则位于电路的底层，以便将电路划分成独立的子电路．为了能睁选择到最佳的可测试设计价函数，将不同的属性值统一成单一的数值分，用于衡量可测试设计技术的优劣．而且没有使将模块当作一个整体来看特，可测试设计技术不得不应用到整个屯路模块，模块总是被认为不可测试的或是易测试的，而投有区分电路模块中可测试区域和不可涓区域．为了降低可测试设定位．可测试设计技术仅插入到关键区域．众所周知，扫描通路技术插入鲥揍块鞠入口，就可块、扫描移位寄存嚣厦扫描锁存暑之问的蓬接方式有多种多样．根本无法用拓扑描述完全衰示．常来自高级综合工具，而且咀能够组成复杂电路的标准模块库为基础。然而目前大多数可测试必要信息．拓扑描述由规范和修改构成．基于规则集描述可以衰示某些额外信息，分层规则集技术，以便降低最终可涮试成本，前边提出的大多方法都使用了一个复杂的成本评价函敷．但这种成本评价函数在识别和转换成本评价园数时十分困难．本文同时提出了一种简单的成本评文献中已提出了多种用于选择量佳可漓试设计技术的方法。但是，所有这些方法都是基于技术口＆够用拓扑描述表示．事实上，拓扑描述并不眩完全衰示电路的所有信息??彝匦敛访枋?以解决可控倒性问题，如果扫插遥路技术应用判模块输出口。就可以解决可观翻性闯曩，如将电子测量与仪器学报资源．降低了电路的性能和可靠性．用归一化因子．??绞???????增刊??坷砉ご笱Ъ扑慊?蒲в爰际跸????规剿集描述和分层规则集描述集成为一体，用于表示设计电路所需舶备种信息．唐本谬竹函戢将不同的■性值统一成单一的散值分．用于表示可测试设计技术的优劣．而投有使用归一化因子．规贝?Ｐ鸵延胏?语言实现．???? 妇?．????????產???????堰????縪??∞或扫描通路设计所需的半完成扫描通路电??为扫描镄存器，??廷颍琽分别表入和测试数据输出．图?缏泛鸵淹瓿缮?还没有被完全确定，连接扫描锁存器韵方圈?胪瓿缮?柰?返缏?于表示扫描通路设计．但在某些情况下，拓扑描述还是可以表达可测试设计技术，如??单锁存嚣或双锓存器设计通过将内部镇存器级联成移位寄存器就可以将计数嚣修改为易测试的计数器，在这种情况下．拓扑描述就可以完全表示实现技术的所有信息。此外，如果模块的功能十分复杂，而且其功能对专家系统是未知的，也就是说．如模块不属于标准模块库．刑可根据模块的结构和类型将其划分独立的组件，以便减小可测试设计的复杂性，同时也能充分利用电本文所提出的多重描述方法臆够克服上述缺点．可以表示可测试设计技术所需的必要信息．多重描述由拓扑描述、基于规则集描述和分层规则集描述组成。拓扑描述又包括规范和修改，规范用来指明模块的特性，即明确地指明模块豹类型、结构和功能，专家系统首先要对规范中的条件进行校验，如果条件船够满足，则可测试设计技术兢可以应用到模块的关键口．修改则用于指明一系列修改步骤，以便将适当的可测试设计技术插入到模块的关键??．基于规则集描述则可以表示其它一些信息，如嵌入自测试技术的规则集描述为：????事实上，系统包古了大量的规奠碍?员惚钢挚陕菏陨杓萍际醵济漩ビτ茫?植闾嵘炯??述位于设计的底鹰．如果没有适当的可嗣试设计技术可以荦?居茫?？楣δ芏韵低扯?杂质俏粗?的，娄垂也相当复杂。郅幺可以将这样柏羹块划分虞独立的子饔块．可潮试设计专毫系统使用这种多?迨龇椒ǎ?蒷；?诓籌胃的分屡设计曩衰示軎??麓的可嗣试设计技术．电子测量与仪器学报例如，圈??隽艘桓鲇糜诒呓缟??路。圈?蠧??硎咀楹下呒?缏罚?示在单扫描通路测试方式下的测试数据输描通路设计电路的区别是：它的扫描通