133Ba面源效率转移法刻度133Xe气体源HPGe探测效率.pdfVIP

第 26 卷第 9 期 强激光 与 粒子束 Vol. 26 , NO. 9 201 4 年 9 月 HIGH POWER LASER AND PART ICLE BEAMS Sep. , 201 4 133 Ba 面源效率转移法亥IJ 度 133Xe 气体源 HPGe 探测效率 份 回自宁 1 2 ， 欧阳晓 平 1 ， 2 ， 3 ， 刘 洋 3 ， 张小东 2 ， 刘林月 2 ， 张建福气 刘军 2 ， 阮金 陆 2 ，张忠兵 2 ， 曾鸣 1 (1.消华大学 工程物理系，粒 子技术与辐射成像教育部位点实验室，北京 1 00084 ; 2 . 西 北 核技术研究所 .西安 7100 2 4 ; 3 . 华北电力大学核科学与工程学院 ， 北京 1 0 22 0 6) 摘 要: 提出使用面源进行效率转移法刻度 133 X e 气体体源的探测效 率 。 使用 m Ba 丽源模拟刻度放射 性 133 X e 气体体源的探测效率，在刻度 的过程中利用 131 Cs 与 133 Ba 的峰效率 比值及 133 Ba 而源远端元符 合 格加效 应 ， 131 Cs 能峰远近都无符合相加效应等 ， 结合软件模拟建立远 近距离 峰效率 比值的关系 ，来 解决 川 Ba 的符合 精力 H 效应 。 最后，使用商源效率转移法进行气体体li.效率刻度，转移法刻度结果和商源、模拟法刻度计算值的偏 差在 土 1 % 以内 。 关键询 : 面源; LabSOCS; 效率刻度 中 图分类号 : TL814 文献标志码: 八 doi:lO. 11884/ HPLPB201426. 094005 国际上 环挠放射性监测领域重 点关注的气体核素为惰性 气体 61 的放射性同位素，尤其是 13 3 X e 气 体 [ 门 ， 因 此对其监测的技术手段是各 国研究 的重 点。一 般测 量 13 3 X e 气 体采用 合 γ 符合法 (2) 和 H PGe γ 能谱分析 法 。 - 4) 。 自- γ 符合法采用符合技术，有效降低了环境???射性本底影响，系统的探测 灵 敏度较高 。 HPGe 探测器 相对伊γ 符合设备具有结 柏简单和操作简单等特点 ， 直 接用 于 四种缸同位素的测量 ， 且 能♀ 分辨率也较高，各 国核素 实验室广 泛使用 H PGe 探测器测量 13 3 X e 气体 。 γ 谱仪测量的关键是确定探测器放射源的探测效率，放 射性佩的 全能峰的效率刻度一般有两种方法 : (1)制作放射性侃同位素标准刻皮源进行效 率 刻