太赫兹连续波成像.PDFVIP

太赫兹连续波成像 如前文所讲，太赫兹成像是一项新兴的技术，但是它已经在许多研究领域和工 作中显示出了无与伦比的实用价值，这其中包括无损检测、安全检查、质量监测、 病变组织检测等。如果单从太赫兹波的形式上对太赫兹成像进行分类的话，大体上 可以分为太赫兹脉冲成像和太赫兹连续波（CW）成像。我们前文所介绍的都为太 赫兹脉冲的成像技术。而 THz－CW 成像技术可以进行实时成像，其扫描速度和成 像质量都能满足人们在实际应用中的需要。 太赫兹连续波源和相应的探测器现有很多种， THz-CW 源常见的主要有五 种：热源、光电子源、非线性光学过程、偏置半导体中的光混频以及电子源。其中 光电子源有包括：自由电子激光器、气体激光器、半导体激光器。相应的探测器主 要有三种，它们分别是基于热效应、光学效应和电子学效应的探测器（详细内容可 参看第 2 章和第 3 章的相关部分）。 5.7.1 太赫兹连续波成像系统 在本节，将会介绍一套价格相对低廉、成像效率较高的 THz-CW 成像系统 （简称 CW 系统），如图 5-17 所示。它是由美国伦斯勒理工学院（Rensselaer Polytechnic Institute， RPI）物理系的太赫兹研究中心于 2003 年率先搭建。目前， 拥有这种系统且投入实用的只有 RPI、美国国家航空航天管理局（NASA）以及国 内的首都师范大学物理系的太赫兹波谱和成像实验室（以后简称为太赫兹实验 室）。当然现在，还有其他种的 THz-CW 系统，这里只是拿太赫兹实验室的这套系 统作代表性的介绍。此系统仍采用逐点扫描的方法进行成像，但是它只只记录透过 样品或经样品反射后的太赫兹波的强度信息，所以成像单元无需在扫描点上暂停； 同时，又由于太赫兹光束的孔径较大，所以扫描步长可以取的相对较大，使其成像 速度比脉冲成像速度提高了许多倍，并且还可以对大尺寸样品进行快速成像，其成 像分辨率可达 4mm 以内。此系统可以对航空航天材料进行缺陷和损伤探测。由于 太赫兹成像技术在分析美国哥伦比亚号航天飞机失事原因时发挥了重大的作用，提 供了有力的证据，现在 NASA 已经将太赫兹成像作为其常规检测的四种手段之 一。尽管此系统现在不具备光谱成像能力，但是由于它的成本相对较低，数据获取 速度较快，信号强度较高，信噪比高，操作简便，使得它具有十分高的实用价值 （具体应用可参看第 11 章的部分内容及第 15 章）。 图 5-17 太赫兹连续波（CW）反射成像系统 如图 5-17 所示，它是一套典型的 THz-CW 实时成像系统。这套系统包括太赫 兹-CW 源（现有 0.2、0.38、0.6 太赫兹的耿氏振荡器）、用于准直和聚焦的光具组 （抛面镜，直径为 40cm 的菲涅尔聚乙烯透镜或平凸聚乙烯透镜）、二维平移台 （可包括旋转台）、太赫兹探测器（肖特基二极管）、电路控制板、电源和计算机等 构成。其中 CW 源、探测器和准直、聚焦光具组通常可集成为太赫兹单元。所以 在结构上，CW 系统要比 THz-TDS 系统简单的多。 5.7.2 太赫兹连续波成像原理 不同于太赫兹脉冲成像技术，利用 THz-CW 成像技术无法得到样品的光谱信 息，即无法获得物体的频域和时域信息。但是，由于通常 CW 源能够提供比脉冲 源更高的射线强度，因此，尽管只有强度信息，也能够满足许多的应用要求。而 且，由于 CW 成像系统不需要采用泵浦探测方法，因此系统的复杂程度大大降 低，成本也大大地降低，能够更加容易普及。再者，由于不用像脉冲系统那样获得 物体的光谱数据，成像速度也极大的提高。 CW 系统根据不同的应用目的，既可以制成透射式的，也可以制成反射式的。 它们的原理如图 5-18 所示，THz-CW 源现有频率为 0.2 或 0.38、0