实验2：ADC数据采集.docVIP

——————————————————————————————————————————————— 实验2：ADC数据采集 实验2: ADC数据采集 1、实验目的 了解ARM处理器ADC接口的处理机制；掌握在S3C2410A 平台下进行ADC接口应用编程本思想和过程。 2、实验内容 学习A/D接口原理，了解实现A/D系统对于系统的软件和硬件要求。阅读ARM 芯片文档，掌握ARM 的A/D 相关寄存器的功能，熟悉ARM 系统硬件的A/D相关接口。利用外部模拟信号编程实现ARM循环采集全部前3路通道，并且在超级终端上显示。 3、预备知识 用ARM ADS1.2集成开发环境，编写和调试程序的基本过程。ARM 应用程序的框架结构。 4、实验设备及工具 硬件：PC机、嵌入式系统实验箱 软件：Windows 操作系统、ADS1.2集成开发环境、超级终端通讯程序。 5、实验原理 （1）A/D 转换器 A/D转换器是模拟信号源和 CPU之间联系的接口，它的任务是将连续变化的模拟信号转换为数字信号，以便计算机和数字系统进行处理、存储、控制和显示。在工业控制和数据采集及许多其他领域中，A/D转换是不可缺少的。 A/D转换器有以下类型：逐位比较型、积分型、计数型、并行比较型、电压－频率型，主要应根据使用场合的具体要求，按照转换速度、精度、价格、功能以及接口条件等因素来决定选择何种类型。常用的有以下两种： 1）双积分型的A/D转换器 双积分式也称二重积分式，其实质是测量和比较两个积分的时间，一个是对模拟输入电压积分的时间 T0，此时间往往是固定的；另一个是以充电后的电压为初值，对参考电源 Vref反向积分，积分电容被放电至零所需的时间 T1。模拟输入电压 Vi 与参考电压 VRef之比，等于上述两个时间之比。由于VRef 、T0固定，而放电时间 T1可以测出，因而可计算出模拟输入电压的大小(VRef与 Vi 符号相反)。由于 T0、VRef为已知的固定常数，因此反向积分时间T1与输入模拟电压Vi在T0时间内的平均值成正比。输入电压Vi愈高，VA愈大，T1就愈长。在 T1开始时刻，控制逻辑同时打开计数器的控制门开始计数，直到积分器恢复到零电平时，计数停止。则计数器所计出的数字即正比于输入电压Vi在 T0时间内的平均值，于是完成了一次A/D转换。 由于双积分型A/D转换是测量输入电压 Vi 在 T。时间内的平均值，所以对常态干扰(串模干扰)有很强的抑制作用，尤其对正负波形对称的干扰信号，抑制效果更好。双积分型的A/D转换器电路简单，抗干扰能力强，精度高，这是突出的优点。但转换速度比较慢，常用的A/D转换芯片的转换 时间为毫秒级。例如12位的积分型A/D芯片ADCETl2BC，其转换时间为lms。因此适用于模拟信号变化缓慢，采样速率要求较低，而对精度要求较高，或现场干扰较严重的场合。例如在数字电压表中常被采用。 2）逐次逼近型的A/D转换器 逐次逼近型(也称逐位比较式)的A/D转换器，应用比积分型更为广泛，其原理框图如图1所示，主要由逐次逼近寄存器SAR、D/A转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分组成。它的实质是逐次把设定的SAR寄存器中的数字量经D/A转换后得到电压Vc与待转换模拟电压V。进行比较。比较时，先从SAR的最高位开始，逐次确定各位的数码应是“1”还是“0”，其工作过程如下： 转换前，先将SAR寄存器各位清零。转换开始时，控制逻辑电路先设定SAR寄存器的最高位为“1”，其余位为“0”，此试探值经D/A转换成电压Vc，然后将Vc与模拟输入电压Vx比较。如果Vx≥Vc，说明SAR最高位的“1”应予保留；如果Vxlt;Vc，说明SAR该位应予清零。然后再对SAR寄存器的次高位置“1”，依上述方法进行D/A转换和比较。如此重复上述过程，直至确定SAR寄存器的最低位为止。过程结束后，状态线改变状态，表明已完成一次转换。最后，逐次逼近寄存器SAR中的内容就是与输入模拟量V相对应的二进制数字量。显然A/D转换器的位数N决定于SAR的位数和D/A的位数。图 3-10(b)表示四位A/D转换器的逐次逼近过程。转换结果能否准确逼近模拟信号，主要取决于SAR和 D/A的位数。位数越多，越能准确逼近模拟量，但转换所需的时间也越长。 逐次逼近式的A/D转换器的主要特点是： 转换速度较快，在 1-100/μs 以内，分辨率可以达18位，特别适用于工业控制系统。转换时间固定，不随输入信号的变化而变化。抗干扰能力相对积分型的差。例如，对模拟输入信号采样过程中，若在采样时刻有一个干扰脉冲迭加在模拟