EMC自动测量标准化可提升设计效率.doc

EMC自動測量標準化可提升設計效率 關鍵字：  HYPERLINK /SEARCH/ART/EMI.HTM EMI?  HYPERLINK /SEARCH/ART/CISPR16.HTM CISPR16?  HYPERLINK /SEARCH/ART/EUT.HTM EUT? 概述 本文描述了如何搭建一個自動的 HYPERLINK /ART_8800445718_480602_NP_1446a382.HTM \o Laird新款機板遮蔽解決方案可強化電子產品散熱效能 \t _blank 電磁干擾( HYPERLINK /SEARCH/ART/EMI.HTM \t _blank EMI)測試系統，介紹了測試過程中出現的問題及其相應解決方法，以及如何正確配置系統及其參數。為規避錯誤及不同測試環境和測試員之間的差異，自動化EMI測量的標準化是不可或缺的。 1．自動化電磁相容( HYPERLINK /ART_8800442772_480602_TA_afaf3cc4.HTM \o 在產品設計階段有效管理電磁相容性 \t _blank EMC)測量 1.1 效率 具有合適的測試及控制方法的自動EMC測量可提高實驗室效率、避免浪費時間。透過 HYPERLINK /ART_8800435188_480402_NPHTM \o Fluke新型高精密度數位多用表提供14種測量功能 \t _blank 自動測量可遠離那些大量煩瑣冗餘的重複性EMI測量。 1.2 一致性 完整的測試系統消除了因人工讀寫和記錄引起的誤差，而且軟體可以保持與儀器設置的一致性。因此，自動EMC測試系統能夠提供高度可重現的測試結果。從根本上來說，不管是人工測量還是軟體控制下的測量，幅射電平的精確度是沒有區別的。在兩種情形下，測量的不確定性來自測試裝置所使用的設備精密度標準。 另一方面，軟體控制下的儀器不同設置可產生不同的測試結果。所以，與自動EMI測量相關的標準正在興起。在測量過程中，我們必須根據CISPR16-2標準來配置軟體和儀器。 為確保測試結果的有效性，測試系統具有校正因子及自動監視功能。 1.3 測試結果和數據管理 對軟體來說能夠非常方便和高效地製作一個資料庫，以便保存和檢查測試結果。 1.4 自動測量期間的問題 儘管使用自動測量有許多優點，但我們仍需強調可能導致錯誤結果的一些要點，諸如頻率掃描過程中的問題、測量時間設置、關鍵數據簡化與篩選、天線高度、校準及修正。 2. EMI測量掃描規則 2.1 EMI測試的頻率掃描步驟 在EMI測量過程中，測試員時常關注是否忽視了一些頻點。在接收機模式中，測試頻率按步進方式(逐點)掃描，因此為了避免忽略頻點，如何設置步距是非常重要的。在頻譜分析儀模式中，測試頻率是連續掃描的，但顯示在頻譜儀上的頻點數卻是有限的，因此如何定位峰值的真實頻率至關重要。 在接收機模式中，該如何設置步距呢？步距必須小於中頻(IF)頻寬的一半，通常我們使用IF頻寬的一半。 依據EMC標準，接收機的IF頻寬定義為-6dB頻寬。如果我們使用不合適的步距，則會有一些峰值丟失或出現錯誤結果。例如，若步距等於IF頻寬，一些頻點(兩相鄰測試點的中間)的測試結果將比正確的測量值少6dB(圖1)；若步距少於1/2 IF頻寬，則錯誤將會小於1dB(圖2)。 圖1：步距等於中頻頻寬 圖2：步距等於1/2中頻頻寬 依據EMC標準，我們可以使用具有-6dB IF頻寬和預選擇器的頻譜分析儀。在分析儀模式中，顯示頻點的數目將影響測試結果。如果我們想在結果曲線上知道準確的頻率值，則需要做局部掃描(放大頻率軸)。在局部掃描過程中，須設置為SPAN/(頻點數)1/2 RBW。 2.2 測量時間和掃描速率 測量與掃描接收機的測量次數與掃描速率應設置為可測量最大幅射電平。 在預掃描期間，通常使用最小掃描與保持時間。 針對峰值點的最終測量，每一頻率的保持時間需足夠長以便測量訊號峰值。 3．EMI自動化測量標準配置 3.1 一般過程 與人工作業相同的是，自動測試系統的第一步也是‘預掃描’：在目標頻率範圍內掃描並搜索來自被測設備( HYPERLINK /SEARCH/ART/EUT.HTM \t _blank EUT)的幅射訊號。依據EMC標準，關鍵限值由準峰值檢波器給出；但是在測試員感興趣的全範圍測試過程中，使用準峰值檢波器將會導致過多的測試次數。感興趣的頻點須限制在被測幅射峰值幅度大於或接近幅射極限的頻率，只有位於這些頻點的幅射訊號才被放大和測量(見圖3)。 圖3：EMI自動測量的一般過程。 3.2 EMI測量過程中的預掃描方法 傳導幅射：預掃描可在一個典型