同轴圆筒旋转黏度计测量原理详析.docVIP

——————————————————————————————————————————————— 同轴圆筒旋转黏度计测量原理详析 第24卷第4期2005年4月　大　学　物　理　COLLEGE　PHYSICSVol.24No.4Apr.2005 杨晓璞1,崔玉江2 (1.中国航天二院二十三所,北京　100854;2.中国矿业大学机电学院,北京　100083) 　　摘要:对同轴圆筒旋转黏度计的测量原理作了深入描述,对于理解旋转黏度计的构造原理以及测量条件,规范流体黏度的计量工作提供了帮助. 关键词:黏度计;流体;黏度;流变特性 中图分类号:O357 文献标识码:A 文章编号:100020712(2005)0420042203 　　同轴圆筒旋转黏度计因其测量系统采用圆柱形转 筒,通过圆筒旋转使被测试样受到剪切而得名.这种仪器最初产生于1890年,经过不断完善,到上世纪40年代后期,由于其适用范围广,测量结果准确,操作方便而得到普遍应用,现已成为最常用的流变测量仪器. 这种仪器有两种类型:一类是内筒以一定的转速旋转,,简称内旋式或上旋式黏度计.,[1]况下,,黏度越大转矩越大,. 体;4)在垂直于转轴的水平面上,流动的流线是圆,即速度仅是半径的函数,径向和轴向的流动为零;5)运动为稳态的,即连续性方程和运动方程的时间导数均为零;6)系统恒温. dr的窄环5),,角加速度,则窄环内侧和外侧所受.由于窄环是任意取的,故流体内各流层所受剪切力矩相等,均等于内筒转动力矩.各流层剪切力矩为 πrhπr2ττr=2(1)M=Aτr=2h式中,M为各流层剪切力矩,h为内筒在流体中的 高度,τ为各流层中的切应力. 各流层剪切力矩M相等,但切应力τ却不相等,它是半径r的函数.内筒表面上的切应力 τ1= 外筒表面上的切应力 τ2= 这里r1lt;r2,故τ1gt;τ2. 由式(1)得 rτ= 2 1　公式推导 1.1　旋转黏度计的基本公式 同轴圆筒旋转黏度计测量系统如图1所示,在半径为r2的外筒里同轴地安装了半径为r1的内筒,在两同轴圆筒间充满了黏性流体.若内筒以等角速度Ω旋转,外筒固定,则由于流体具有黏性,圆筒旋转时将带动流体运动. 假设流体运动满足以下条件:1)两筒为无限长;2)圆筒表面无滑移;3)流体为牛顿流 πhr221πhr222 (2) (3) πh2 (4) 将上式对r求导,整理后得 =-2τr (5) 图1　旋转黏度计测量 系统示意图 内外筒之间的流体因黏性作用在内筒带动下逐 层旋转,各流层质点的角速度不同.设距旋转轴r ω,则处,流体质点的角速度为ω(r),线速度u=r (6)=r+ωdrdr 　收稿日期:2004-02-20;修回日期:2004-09-06 ),男,河北邢台人,中国航天二院二十三所助理工程师,硕士.　作者简介:杨晓璞(1977— ? 1994-2010 China Academic Journal Electronic Publishing House. All rights reserved. 第4期 其中ω项不引起流体质点的剪切变形,又内筒旋转 式黏度计dω/drlt;0,于是切变速度的大小为 γ=f(τ)=-r(7)dr 将式(5)代入式(7)得到dω=dτ,再积分得 2τ Ω τ1Ω=(8)dω=dτ 2τ2τ0 表观黏度或非牛顿黏度[2].非牛顿流体的流变测量 可以采用表观黏度测量方法进行. )=τ将非牛顿流体的本构方程γ=f(τ/ηB代入旋转黏度计基本公式,得 τ1Ω=dτ= 2τ2τ2 ∫ τ ηdτ2 B τ1 式(8)便是旋转黏度计的基本公式. 1.2　牛顿流体的流变测量 牛顿流体的本构方程为 γ=f(τ)= η 式中,ηB是非牛顿流体的表观黏度. 当黏度计测量系统满足窄缝条件,也就是内外 (3)得τ筒半径远大于两筒间隙时,由式(2)、2≈τ1 ≈τ,即圆筒间各流层切应力相等.由此,ηB可在上式积分中近似取常值. 积分上式,采用和牛顿流体相同的步骤得: ηB=k1Mγ1=k2,改变内筒转速,同时读取内筒旋