8.可靠性预计与分配1要点.ppt

* 若系统的寿命服从指数分布,各单元的失效率为： 可靠性分配 * 为何依据不可靠度，采用按比例分配法进行分配，获得的系统可靠度大于指标要求？ 可靠性分配 * 因此，按比例分配法得到的系统的可靠度，比希望的略高。 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 依据失效率按比例分配法进行分配，获得的系统可靠度与指标要求相比，那个大？ 可靠性分配 * 2.并联系统 若系统的不可靠度已定,各单元的不可靠度为: 进而得出各单元的可靠度。 可靠性分配 注意有： * 若各单元的寿命服从指数分布，若各单元的失效率为: 可靠性分配 * 可靠性分配 * 此类系统的可靠度分配方法如下: 3确定并联部分中每个单元的容许失效率或失效概率。 3.冗余系统可靠度分配 1将每组并联单元适当组合成单个单元，并将此单个单元看成是串联系统中并联部分的一个等效单元。 2用串联系统可靠度分配方法，将系统的容许失效率或失效概率分配给各个串联单元和等效单元。 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 复杂冗余系统的简化 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 * 可靠性分配 若采用等分配法 * 作业：2-10 * 4. 可靠性预计与分配 4.1可靠性预计 可靠性预计是为了估计产品在给定工作条件下的可靠性而进行的工作。 它运用以往的工程经验、故障数据、当前的技术水平、尤其是以元器件、零部件的失效率作为依据，预报产品(元器件、零部件、子系统或系统)实际可能达到的可靠度。 是一个由局部到整体、由小到大、由下到上的过程，是一个综合的过程。 * 可靠性预计的目的： (1)检验所做设计是否能满足给定的可靠性目标,预测产品的可靠度值； (2)在方案论证阶段,通过预计，根据结果的相对性进行方案比较，找出最优方案。 (3)综合设计参数及性能指标要求，达到合理提高产品可靠性的目的。 (4)发现主要因素，找出薄弱环节，采取措施提高可靠度。 (5)为可靠性增长试验、验证试验及费用核算等研究提供依据。 可靠性预计 * 可靠性预计 * 可靠性预计 * 4.2可靠性预计方法 4.2.1系统可靠性预计的一般方法 在统计了大量相似系统的性能参数与可靠性关系的基础上，进行回归分析，得出一些经验公式及系数，以便在方案论证及初步设计阶段，能根据初步确定的系统性能及结构参数预计系统可靠性。 1.性能参数法 例如电子元件性能参数的退化与失效概率密度函数之间的关系。 * 2.可靠性数学模型 可靠性预计 * 3.相似设备法 将被评估的新产品与以往类似产品进行比较，设新产品缺陷总数为nr，原产品缺陷总数为nb ，ni为新引进的缺陷总数，ne为已排除的缺陷总数， 则： nr=nb+ni-ne 新产品的失效率为: ?r=k?nr k是从旧产品上获得的产品失效率与其内部缺陷之间的关系系数。 可靠性预计 * 4. 相似电路法 若已知新老系统的电路相似，并知道老系统各种电路的失效率和新系统的各种电路数，则可按经验公式估计新系统的失效率： 可靠性预计 * 5. 失效率预计法 当研制工作进展到详细设计阶段，已有产品原理图和结构图，选出了元部件，已知它们的类型、数量、使用环境及应力，并已具有实验室常温条件测得的失效率时，可采用失效率预计法。 可靠性预计 * (1)根据产品功能画出可靠性框图。 (2)按可靠性框图建立相应的数学模型。 (3)确定各方框中元部件或设备的失效率，该失效率应为基本失效率。 可靠性预计 * 非电子产品工作失效率为： ?p= ?b K?D 式中： ?p——工作失效率； ?b——基本失效率； K（环境因子），D（降额因子）——取值由工程经验确定。 可靠性预计 * 2.预计方法 a)元件计数法 b)元件应力分析法 c)简单枚举归纳推理的可靠性快速预计法 4.2.2电子、电器设备可靠性预计 1.特点 a)服从指数分布； b)成熟、标准化程度高。 * 可靠性预计 * 可靠性预计 * 结温是处于电子设备中实际半导体芯片（晶圆、裸片）的最高温度。 它通常高于外壳温度和器件表面温度。 如果器件工作温度超过最高结温，器件中的晶体管就可能会被破坏，器件也随即失效。 结温为：热阻×输入电力+环境温度 可靠性预计 * 可靠性预计 * 2.预计方法 a)修正系数法 b)相似产品类比论证法 4.2.3机械产品可靠性预计 1.特点 a)失效率为非常值； b)通用性不强、标准化程度低。 * 可靠性预计 * 其基本思想是根据仿制或改型的类似国内和国外产品已知的失效率，分析两者在组成结构、使用环境、原材料、原器件水平