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高速电容层析成像系统的硬件关键技术研究
学兔兔
总第47卷 第530期 电测与仪表 Vo1.47 No.530
2010年 第O2期 Electrical Measurement lnstrumentation Feb.2OlO
高速电容层析成像系统的硬件关键技术研究木
高彦丽 ,章勇高 ,聂水果 ,邵富群
(1.华东交通大学 电气与电子工程学院,南昌330013;2.国家知识产权局专利审查协作中心,北京 100190;
3.东北大学信息与科学工程学院,沈阳110006)
摘要:如何提高电容层析成像系统数据采集率,使其能够满足高速流动过程成像的需求,一直都是学者们的研
究热点。本文就ECT系统的微小电容测量电路、数据采集控制模块以及通信模块,分别讨论影响其实时性能的关
键技术及目前的研究成果。论述了两种适用ECT系统的高速电容测量电路,重点分析了提高交流法微小电容测
量电路的实时性能的方法,给出其高速工作模式及参数选择方法;同时总结了高速数据采集控制模块及通讯模
块的关键设计技术,即控制器、测量控制方案及通讯方式的设计和选择。
关键词:高速电容层析成像系统;数据采集;微小电容测量;通讯模块
中图分类号:TM934,TD325 文献标识码:B 文章编号:1001—1390(2010)02—0013—04
Key Issues in Designing High-speed Hardware for Electrical Capacitance
Tomography System
GAO Yan—li ,ZHANG Yong—gao ,NIE Shui—guo2,SHAO Fu-qun
(1.School of electrical and electronics,East China JiaoTong University,Nanchang 330013,China.
2.Patent Examination Cooperation Center of SIPO,Beijing 100190,China.
3.School of Information Science and Engineering,Northeasten University,Shenyang 1 10006,China)
Abstract:It is always a hot spot for researchers that how to improve the ECT system data acquisition speed aim to meet
the real—time requirement of high-speed industry processes.In this paper,key issues in designing high—speed hardware
(small capacitance measurement module,data acquisition control module and communication module)for electrical
capacitance tomography system are analyzed and research results at present are discussed. AC—based and active
differential—based capacitance measuring circuits widely used are discussed.The real time performance of AC—based
circuit is analyzed in detail.Key technology for designing high-speed ECT system is proposed,whi
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