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《微机原理》第6章半导体存储器
6.1 内存与外存 6.2 半导体存储器 6.3 随机存储器 6.4 只读存储器 6.5 存储器与系统的连接 6.1 内存和外存 6.2 半导体存储器 6.2.1 半导体存储器的分类 1.RAM 特点: RAM的读写次数无限。 如果断开RAM的电源,其内容将全部丢失。 RAM的分类 : 静态RAM(SRAM,Static RAM) 动态RAM(DRAM,Dynamic RAM) 2. ROM 掩膜ROM:掩膜ROM简称ROM,是由芯片制造的最后一道掩模工艺来控制写入信息。 PROM(Programmable ROM):可由用户一次性写入的ROM,如型熔丝PROM 。 EPROM(Erasable Programmable ROM):可擦除的可编程只读存储器。如紫外线擦除型的可编程只读存储器。 E2PROM(Electrically Erasable Programmable ROM):也称为EEPROM,是可以电擦除的可编程只读存储器。 闪速存储器(Flash Memory):闪速存储器是新型非易失性存储器,在系统电可重写。 6.3 随机存储器RAM 6.3.1 RAM基本结构 2.单管DRAM基本存储电路 信息存放在电容Cs中,Ts是选通开关。当Cs中充有电荷时表示信息“1”,当Cs中没有电荷时表示信息“0”。 3.RAM芯片内部结构 半导体存储器由地址译码、存储矩阵、读写控制逻辑、三态双向缓冲器等部分组成。 6.3.2 典型SRAM芯片 1. IDT6116 2K×8bit的CMOS工艺的静态RAM. (1)最大存取时间:早期的6116速度较低,近几年的产品性能有所提高。例如IDT6116SA15/20/25/35/45的读、写时间分别为15、20、25、35、45ns。 (2)功耗: 操作时ICC为80-150mA 全待用模式(Full standby power mode)时ICC为2mA 与其同一系列的还有: 6264容量为8K×8bit 62128容量为16K×8bit 62512容量为64K×8bit 621400容量为4M×1bit 628511容量为512k×8bit 6216255容量为256K×16bit 它们的控制信号基本相同。 6.3.3 典型DRAM芯片 1. 2164 (64K×1bit) INTEL公司的早期产品,当时IBM 公司的PC机使用该芯片作为其内存。 主要特征: 存取时间150-200ns 操作时的功耗275mW,备用时7.5mW 5V单一电源 每次同时刷新512个存储单元(512×1bit),刷新128次可将全部单元刷新一遍。 刷新周期2ms 读/写操作: 先由/RAS信号将地址线输入的8位行地址(例如A0-A7)锁存到内部行地址寄存器,再由/CAS信号将地址线输入的8位列地址(例如A8-A15)锁存到内部列地址寄存器,选中一个存储单元,由/WE决定读或写操作。 由于动态存储器读出时须预充电,因此每次读/写操作均可进行一次刷新,刷新四个矩阵中的128×4 bit=512 bit 。 刷新操作: 当芯片的/RAS为低,行地址由A0-A6送入,这时动态存储器对四个矩阵中的128×4 bit同时刷新。 例:IBM PC计算机中,定时器8253的1号通道每15us向4号DMA控制器请求,由该控制器送出刷新地址,进行一次刷新操作。完成全部的刷新操作的时间为128×15us。 2.414256 (512×512×4 ) 6.4 只读存储器 典型芯片: NMOS工艺:2716、2732等 HMOS工艺:2764、27128、27256、27512等 CMOS工艺:27C128、27C256、27C512等 6.4.1 EPROM 2764的工作模式 6.4.2 E2PROM 1.典型E2PROM芯片AT28C64 引脚图: 28C64的读操作: 数据轮询(DATA POLLING): 28C64在写周期中提供完成写操作的数据检测功能。在写周期中,不断地读数据,读出的数据的I/O7总是相反的,直到写操作完成,读出的数据就正确了。因此可以采用反复检测写入数据的方法判断写操作是否完成。 全片清除(CHIP CLEAR): 将存储器内的全部存储单元中的每一位置为“1”就是全片清除操作。方法是使/CE为低、/OE为12V,在/WE端加上10ms低脉冲。 6.4.3 Flash Memory 典型闪速存储器芯片TMS2
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