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品质检验系统
台科大EMBA Web site : .tw 品質檢驗系統 Prepared by Roger Puu 內容: 全面品質保證系統 品質檢驗範圍 檢驗最終目的 檢驗流程 1. 進料檢驗IQC 2. 制程檢驗IPQC 3. 最終檢驗FQC 4. 成品出貨檢驗OQC 5. 統計品管項目SPC 6. 現場Shop Floor品質追蹤及績效結合 全 面 品 質 保 證 系 統 AQA DQA CQA VQA MQA SQA DQA SQE IPQC PQC CS IQC FQC OQC QS 品質檢驗範圍 品質檢驗最終目的: 自主檢查及達成零不良 品質是設計及製造出來的, 不是檢驗出來的. 堅持品質三不,追求「零不良」 1. 不接受不良品 2. 不製造不良品 3. 不流出不良品 不良範圍包括產品不良,材料不良,設 備不良,設計不良,方法不良等 客戶抱怨處理 材料進料 PCBA 測試 F-測試 出貨 SQE/IQC 進料檢驗 FQC/OQC 最終/出貨檢驗 Excursion 教育訓練 Excursion IPQC 制程巡檢 不合格管制 SPC USL LSL Excursion ECN/ECR 工程變更 ISO 9000 系統/認證 Shop floor 品質追溯 工程分析 ORT 出貨信賴 性測試 ISO 14000 系統/認證 Pack 組裝 C-測試/充 放電測試 PCBA 加工 FQC/ OQC Cpk, X-bar R, P-Chart 制 造 品 質 保 證 系 統(MQA) 進料檢驗(IQC)流程 制程檢驗(IPQC)流程 最終檢驗(FQC)流程 成品出貨檢驗(OQC)流程 Pulling force V Histogram, X Bar-R Chart,cpk SPOT QC Pack’s L / W / H V X Bar-R Chart,cpk FQC QC ACIR,OCV V Histogram, X Bar-R Chart,cpk Final Test QC ACIR,OCV V Histogram, X Bar-R Chart,cpk Core Pack Test QC VOLTAGE,ACIR V Histogram, X Bar-R Chart,cpk Cell Sorting QC MOSFET IR FUSE IR V Histogram, X Bar-R Chart,cpk PCBA Test QC Case’s L / W / H V X Bar-R Chart, cpk Incoming IQC Cell’s V / IR / C V X Bar-R Chart,cpk Incoming IQC Overall Sample Control Item Test Method Control Chart Workstation Duty Dept. 統計品管項目SPC Shop Floor品質追蹤與作業員績效結合 品質不良案例 上蓋凸起
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