第3章物相分析精要.ppt

（二）物相定量分析 内标法 外标法 K值法 （三）点阵常数测定 1、基本原理：一种间接方法(测量的是某一衍射峰对应的θ角，然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算出点阵常数。) 立方晶体: 2d sinθ=λ (1)影响点阵常数精度的关键因素是sinθ (2) 布拉格（bragg）方程的微分式 （四）非晶态物质的X射线衍射分析 1、非晶态物质的主要特征： 2、非晶态物质的X射线衍射图 （五）结晶度的测定 1、结晶度：材料中晶相所占的质量分数。 2、X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相衍射强度来实现。 （六）晶粒度及晶格应变的测定 1、利用x射线衍射线强度数据可以测定粉晶中平均晶粒大小。主要是谱线宽化法。 2、晶粒度可由谢乐方程求得。 D-晶粒直径；θ-布拉格角； λ-入射波长； βhkl-衍射峰的半蜂宽(2θ标定的峰，弧度) 例：用x射线衍射仪摄取MgCl2样品经9h球磨前后的衍射谱图。用Cu Kα线，λ＝o.154nm。（003）布拉格角为7.5。，（110）布拉格角为25.1。。研磨前样品003衍射蜂半高宽为0.4。，110衍射峰半高宽为0.6。；研磨后003衍射峰半高宽为1.1。比较球磨前后晶粒变化。 * * 4、样品制备 （1）粉末样品 为防止样品出现择优取向，粉末样品要细小； 填充区直径为25mm，通过玻璃片压平，使样品平面与样品台平面平齐。 （2）块体样品 块状样品表面研磨抛光，大小应该能够放入直径25mm填充区； 用橡皮泥将样品粘在填充区，并用玻璃板压平，要求样品表面与支架表面平齐。 通常要求样品无择优取向(晶粒不沿某—特定的晶向规则地排列)，而是在任何方向中都应有足够数量的可供测量的结晶颗粒。 粉末尺寸过大会严重影响衍射强度的测量结果，但如果粒度太小，当小于1μm时，会引起衍射线宽化。 粉末粒度在1－5μm之间为最好。 粉末尺寸 15—50μm 5－50μm 5～15μm ＜5 μm 强度相对 标准偏差 24.4％ 12.6% 4.3％ 1.4 ％ 3.3 粉晶X射线衍射物相分析 一、定性分析 1、定性分析原理 某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置以及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。 2、定性分析的方法 信息的采集（晶面间距d 、相对强度I／I1 ） 查找核对标准花样 （PDF卡片手册 ） 3、PDF卡片的结构 1a,1b,1c-三条最强衍射线对应的晶面间距,1d-最大面间距 2a,2b,2c,2d-上述各衍射线的相对强度，最强线为100 3.实验条件 辐射光源 波长 滤波片 相机直径 最大面间距 测量相对强度方法 数据来源 4.晶体学数据 晶系 空间群 晶胞边长 轴率 A=a0/b0 C=c0/b0 轴角 单位晶胞内“分子”数 数据来源 5.光学性质 折射率 光学正负性 光轴角 密度 熔点 颜色 数据来源 6. 样品来源、制备方法、升华温度（S.P.） 、分解温度（D.T.），转变点（T.P.），摄照温度等。 7.物相名称 8.物相的化学式与数据可靠性 可靠性高 ? 良好 i 一般 空白 较差 O 计算得到 C 9. 全部衍射数据 10.卡片编号 (1)在2θ90°范围内选取三强线，对应晶面间距d值按强度递减顺序排列，再将其余线条之d值列于三强线之后。 (2)在数字索引中找到对应的d1组。 (3)按次强线的面间距d2找到对应的几列。 (4)检查这几列数据中第三个d值是否与实验值相对应。再检查后面其余的八强线，并从中找出最可能的物相及卡片号 5、定性相分析的方法 (5)将实验所得d及I/I1与卡片上的数据详细对照，如果对应很好，则物相鉴定结束。 如果各列的第3个d值在待测样中均找不到对应数据，则应选取待测样中下一根线作为次强线，并重复（3-5）的检索步骤。 当找出第一物相后，将其线条去除，把留下的线条的强度进行归一化处理，再按程序（1-5）进行检索。 线条 待测试样 卡片4-0839Cu d I/I1 d I/I1 1 2.09 100 2.088 100 2 1.80 50 1.808 46 3 1.28 20 1.278 20 4 1.08 20 1.090 17 5