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辐射成像与综合孔径概述
SA-PAU系统双单元实验系统照片 GeoSTAR样机成像图 HUT-2D芬兰海岸成像 STAR-Light系统外形与单元内部照片 CSA C波段综合孔径辐射计地面成像实验结果 综合孔径成像反演 如果在(u,v)平面上的采样点布满从-∞到∞的范围,则可以不失真地反演出目标的亮温分布图像 实际上,由于天线个数是有限的,构成的基线数量也就是有限的,不可能测得连续的可见度函数 因此就只能通过对有限个离散采样点的观测值求和来逼近 反演是根据可见度测量求解场景亮温分布图像的过程。 目录 微波辐射测量基本概述 微波辐射成像方法 微波辐射探测系统与成像实例 综合孔径技术基本原理 综合孔径技术发展历史 综合孔径技术国内外发展状况 综合孔径技术发展历史 综合孔径技术是来源于射电天文领域,被用来观测银河系和其他星系目标的射电发射。 由于衍射效应,射电望远镜的分辨率受到天线孔径的限制。大口径的天线加工极为困难,难以满足分辨率不断提高的需求。 二十世纪上半叶,结晶学家探讨了一种理论,可用间接方法获得图像。五十年代初,英国剑桥大学卡文迪许实验室的射电天文学家赖尔等人,把这种理论发展成射电天文中的综合孔径技术。 英国射电天文学家赖尔因此获得了1974年诺贝尔物理学奖金。 射电综合孔径技术-初步阶段 1954年布莱思按照赖尔提出的方案,建造了第一台综合孔径射电望远镜。它由一整排小单元组成一字形单元和一个可沿着一条垂直线移动38个不同位置的小单元组成,可以综合成一个相当于正方形“大天线”的综合孔径望远镜,能在波长为7.9米的波段上得到2.2度的分辨角。虽然,2.2度的分辨角不可能获得精细的射电分布图。 这一观测实验证实综合孔径新原理的正确性,意义非凡。从此,射电天文综合孔径时代开始了。 射电综合孔径技术-发展阶段 在20世纪50年代还没有储存容量足够大、计算速度足够快的计算机来完成观测资料的傅里叶变换。到了60年代,综合孔径射电望远镜的发展才有了可能,陆续建成了0.8、1.6和5千米基线的综合孔径射电望远镜。 1960年赖尔和内维尔开始研制等效直径为1.6千米的综合孔径射电望远镜。这台综合孔径射电望远镜由3面直径18米的抛物面天线组成,其中2面固定在地面上的天线相距0.8千米,另1面天线放在长0.8千米的铁轨上,可以移动,结果得到了4.5角分的分辨率。这个实验的成功,证明了利用地球自转进行综合观测的方法是可行的,由于总的接收面积增加使望远镜的灵敏度提高达8倍之多。这台望远镜于1964年正式启用,用于普测射电天图和研究弱射电源,特别是射电星系的结构。 射电综合孔径技术-完成阶段 1971年剑桥大学建成了等效直径5千米的综合孔径望远镜,代表了当时最先进的设计水平。它由8面口径为13米的抛物面天线组成,排列在5千米长的东西基线上,4面天线固定,4面可沿铁轨移动。每观测12小时后,把可移动天线放到预先计算好的位置上再观测12小时,尔后再移动位置,直到获得所需要的各种不同的天线间距的测量值。计算机处理资料后便得到一幅观测天区的射电图。 这台望远镜是专为绘制单个射电源的结构而设计的,除了它有更大的综合孔径以外,各个抛物面也更加精密,可在短至2厘米的波长上工作,结果得到的角分辨率为1角秒,这个分辨率已经可以和高山台站上的大型光学望远镜媲美了。 射电综合孔径技术-前景 在赖尔取得成功以后,综合孔径射电望远镜风靡全世界,至今仍具强劲的发展势头。其中最重要的是美国国家射电天文台的甚大阵天线(VLA),是当前最大的综合孔径射电望远镜,其最高分辨角为0.13角秒,已经优于地面上的大型光学望镜。 该系统由27面直径25米的天线组成,Y形排列,每臂长21公里,厘米波段最高分辨率可达角秒量级,与地面上光学望远镜的实际分辨率相当,成像时间为8小时。 目录 微波辐射测量基本概述 微波辐射成像方法 微波辐射探测系统与成像实例 综合孔径技术基本原理 综合孔径技术发展历史 综合孔径技术国内外发展状况 综合孔径技术国内外发展状况 从20世纪80年代末世界上第一台综合孔径微波辐射计ESTAR研制成功开始,美国航空航天局(NASA)、美国马萨诸塞州立大学、欧洲航天局(ESA)、芬兰赫尔辛基技术大学等单位就开始了大量的探索性工作,并相继研制出综合孔径微波辐射计成像系统或样机 ESTAR 2D-STAR MIRAS SA-PAU GeoSTAR HUT-2D STAR-Light CAS综合孔径辐射计 华中科技大学一维综合孔径系统 ESTAR(Electronically Scanned Thinned Array Radiometer) ESTAR是世界上第一台采用干涉式综合孔径技术的机载微波辐射计,由美国马塞诸萨州立大学(University of Massachusetts)与美国航空宇
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