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模式识别 《电气 自动化)2ols年第35卷 第3期 Panem ldentifications 基于数学形态学的手机屏缺陷检测算法设计 许祖鑫，毕明德，孙志刚 (华中科技大学 控制科学与工程系 信息所，湖北 武汉 430074) 摘 要：针对手机屏颜色单一、缺陷形状特征明显等特点，提出了一种基于数学形态学的表面缺陷自动检测方法。采用CCD工业相机 获取单帧图像进行滤波预处理 ，然后运用灰度形态学方法进行缺陷分割；并通过提取缺陷的形态特征进行缺陷分类。实验结 果表明：算法可靠，能有效地识别缺陷，同时准确地判别缺陷类型。 关键词：灰度形态学；手机屏；中值滤波；特征提取；缺陷分类 DOI：10．3969／j·issn．1000—3886．2013．03．033 [中图分类号]TP391．41 [文献标志码]A [文章编号]1000—3886(2013)03—0099—03