透射电子显微分析 ;Transmission electron microscope;透射电子显微镜(简称透射电镜,TEM),可以以几种不同的形式出现,如:
高分辨电镜(HRTEM)
透射扫描电镜(STEM)
分析型电镜(AEM)等等。
入射电子束(照明束)也有两种主要形式:
平行束:透射电镜成像及衍射
会聚束:扫描透射电镜成像、微分析及微衍射。;工作原理;注解;;成像原理;重要系统;电子光学系统: ;电子光学系统: ;注解;2. 试样室:;3. 成象放大系统: ;透射电镜几种常见的应用;TEM图像在负极材料中的应用;TEM images of the hollow core–shell structured porous Si–C nanocomposite.
(b) TEM image of Si.
(c) Si coated with a thin layer of SiO2.
(d) Si@SiO2 composite formed in(b) was coated with a layer of carbon.
(e) Si@SiO2@C composite formed in (c) was etched with HF to remove the SiO2 layer
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