吸水剖面1〔西安〕.pptVIP

生产测井 我国大部分油田采用水驱开发方式进行开采。我国的放射性同位素示踪注水剖面测井就是围绕油田注水开发发展起来的。放射性同位素示踪法测井是一种利用放射性物质人为提高地层的伽马射线强度，用来研究井的注入剖面的方法。在理想条件下，地层的吸水量与井壁滤积的微球载体量和放射性强度三者之间成正比关系。 然而，由于受到示踪剂微球颗粒直径大小、现场施工、同位素沾污及储层长期注水造成的内部孔隙喉道结构的变化等多种因素的影响，常规解释很难给出合理的解释结果，必须开展注水剖面测井精细解释，才能满足油田开发的需要。 1、常规测井解释技术 测井系列：井温+同位素+磁定位 解释步骤： （1）吸水层的划分（3个方面） （2）定量解释吸水层 相对吸水：βi = Si/(∑Si)×100% 绝对吸水：Qi =βi×Q ①由于井下管柱结构、配水器、管壁结垢或脏污等造成非吸水层位的同位素污染； ②有大孔道地层时，即由于长期受注入水的冲刷，同位素推向了地层深处，使有些主力吸水层上同位素异常幅度很低，甚至没有同位素异常； ③当射孔井段以上套管腐蚀穿孔使注入水流失，或者射孔井段以上窜槽吸水时； ④当注水井段以下或中间卡堵段吸水，或遇阻井段以下有吸水层时； ⑤当同位素用量不够，或因污染损失使部分吸水层未得到同位素时。 注水剖面的同位素污染校正 注水剖面吸水厚度的确定 注水剖面厚层细分 在施工中，由于井下管柱结构、配水器、管壁结垢或脏污及腐蚀、注入水质、同位素微球规范等因素的影响，造成载体在注水层段各部位的放射性沾污，产生异常幅度。这不仅和吸水异常幅度混淆起来，难以区分，而且也直接影响了吸水层位的异常幅度，降低了测井资料的解释精度，有时甚至达到了颠倒主次吸水层的程度。据1999年至2000年测的276口井吸水剖面资料统计，污染严重的有75口井，占27.2%。所以，同位素载体的污染一直是困扰注水剖面测井解释精度的主要问题。 1、污染机理分析 在注水剖面测井中的污染主要分吸附污染和沉淀污染两大类。造成这两类污染的污染机理是： （1）沉淀污染 这一类污染主要是测井时使用的同位素颗粒密度、粒径与注入水不匹配，使同位素微球产生滑脱造成的。 1、污染机理分析 （2）吸附污染 注水井中配水器、油管外壁和套管内壁的沾污大都是吸附沾污，其沾污的基理分析如下： ●管壁油污及涂料不均造成的吸附作用； ●注入水管柱和套管内壁腐蚀； ●固井质量差，同位素进入串槽处； ●吸水层处管壁上有油污。 2、污染校正方法 污染校正流程： ●判断哪些异常是吸水，哪些异常是污染； ●计算所有射孔层的吸水面积和所有的沾污面积； ●确定沾污类型和校正污染系数； ●将校正面积按射孔层的吸水能力分配给受沾污影响的地层； ●计算总吸水面积、相对注水以及分层吸水量。 2、污染校正方法 测井原理：地层表面单位面积ds上滤积的同位素在井轴上所造成的放射性强度djr为： djr=(a×q)/(4л×R2×еμR)×ds 这是在理想情况下同位素载体滤积在水泥环后面的地层表面上的计算方法。但当污染发生时，造成污染的同位素是处于井中油管外壁、套管内壁、油套环形空间、接箍、封隔器等不同的位置，并且可能以环状、筒状、线状等不同的类型出现。所以校正时，必须等效到地层条件下，计算对探测仪器所做出的贡献，因此首先要对污染面积确定校正系数。 2、污染校正方法（污染校正系数） 校正面积的分配原则： ●在笼统注水条件下，按水流的方向，沾污面积只分配给其后的吸水层。 ●在配注井中，沾污的校正面积只是在其所在的配注层段中的各地层间分配，而不影响其他配注段的解释。 生产测井设备 生产测井条件 * （吸水剖面测井） 2001年8月19日 生产测井解释技术 中原油田分公司勘探开发科学研究院 一、概 述 有关生产测井的参考书： 《生产测井原理》吴锡令著 石油工业出版社，1997 《生产测井原理与资料解释》乔贺堂主编 石油工业出版社，1992 《油气田开发期地球物理监测技术》 ?. C. 库兹涅佐夫等著 ，石油工业出版社，1995 生产测井解释技术 中原油田分公司勘探开发科学研究院 1、地球物理测井简介 1、测井特点 测井是应用物理学方法原理，采用电子仪器，测量钻井内信息的技术学科。 所应用到知识包括：物理学 + 电子学 + 信息学 + 地质工程 + 石油工程 测井技术要求知识含量高、技