LED引线键合工艺鉴定技术.pdf

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LED引线键合工艺鉴定技术

LED引线键合工艺评价 引线键合是LED封装制造工艺中的主要工序,其作用是实现LED芯片电极与外部引脚的电路连接。引线键合 工艺的方法和质量直接影响着LED灯珠的可靠性和成本。 服务客户:LED封装厂 检测手段:扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS),X射线照相 (X-RAY)。 检测内容: 1. 引线直径、形貌、成分检测、线弧形状、弧高。 金鉴检测 2. 键合球得精准定位,键合球形貌、金球圆正度,尺寸测量; 3. 切片分析有无虚焊,挖电极现象。 A点:晶片电极与金球结合处; 4. 有无凹坑、有无缩颈、无多余焊丝、无掉片、无损坏芯片、 B点:金球与金线结合处即球颈处; 无压伤电极,拱丝无短路,无塌丝,无构丝。 C点:焊线线弧所在范围; 5. 键合工艺整体评价。 D点:支架二焊焊点与金线结合处; E点:支架二焊焊点与支架阳极结合处; 检测重点: 案例分析一:某公司灯珠发生忽亮忽灭的情 况,我们对此进行切片,发现引线键合不牢, 1.键合球精准定位控制度和形貌 LED虚焊,并且线颈部短小,基本无线颈, 焊点实际是将两种金属键合在一起,键合点的强度和可靠性通常决定于金 易使金球部位受力至断开。 球和焊区金属间的面积。键合球得定位精准是保证键合球直径在规定得要 求范围内,键合点完全落在焊盘上。键合球直径过大,超出芯片焊盘范围, 会压伤芯片发光层,影响电流扩散及出光效率,造成短路、漏电;键合球 直径过小,会出现缩线,焊接不上的现象。键合球根部不能有明显的损伤 或变细的现象,第二焊点楔形不能出现明显裂纹。键合球无虚焊,挖电极 等现象。 2.拱丝直径、成分、形貌和高度 拱丝的直径影响到焊球的直径大小和圆正度,并影响了拱丝的强度。溶胶 后线弧形状外观的检测,线颈过短、过高、过于前倾或后仰、线弧歪斜、 线形不规则等都会有风险。 3.键合工艺评价 金鉴检测 键合工艺整体评价。无多余焊丝、无掉片、无损坏芯片、无压伤电极,拱 键合球虚焊 丝无短路,无塌丝,无构丝。 案例分析二:某大功率产品引线键合工艺分析 金焊盘 109.6μm 59.6μm 55.3μm 114.6μm 键合金球 979.5μm 79.5μm 576.7μm 26.5μm 金鉴检测 金鉴检测 26.6μm 552.0μm 38.3μm

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