铁磁纳米阵列膜温度稳定性的损伤扩散研究！.PDFVIP

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 *) # $% # ， ， ， R;5 ’*) Q; ’ # S=A;@HJ $% （ ） #1($B$%B*) # B/*)#1/ KLMK N+O.PLK .PQPLK !$% L74C ’ N7TI ’ .;= ’ 铁磁纳米阵列膜温度稳定性的损伤扩散研究! ! 郭子政 宣志国 张院生 安彩虹 （内蒙古师范大学物理与电子信息学院，呼和浩特 #$$ ） （ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿） $% $ #$ $% $ $ 利用损伤扩散方法研究了三角点阵量子磁盘的温度稳定性问题 为建立实际体系的伊辛模型，我们作了三方 ’ 面考虑：）计入自旋间的长程相互作用；）考虑纳米线阵列中纳米线长度的不一致性，）推导出矫顽力与自旋交换 # $ ( 常数间的关系并利用矫顽力定量估算出自旋交换常数的数值’ 模拟结果表明，自旋间的作用范围越长，损伤扩散越 难，即稳定性越好；而纳米线的长度混乱度越大，温度稳定性越差’ 关键词：量子磁盘，温度稳定性，损伤扩散方法 ： ， ， !## )*#+ )*,- )**. 离传输区域使得记录密度很高并且传输噪音近似为 ；）能精确定位读写头，克服了超顺磁极限 # 引 言 , ’ #) 年以来报道 的量子磁盘的记录密度可以达到 ［，］ 随着信息技术的不断发展，人们对信息存储密 ,?@4AB 4C$ 或更高( , ’ 度的要求不断提高 研究和开发新一代超高密度磁 ’ 目前量子磁盘等纳米结构材料已经成为超高密 ［，］ 记录材料已经得到了人们的普遍关注# $ ’ 就磁存储 度信息存储器件的重要可选对象 已问世的纳米线 ’ 而言，由于巨磁阻磁头等技术的应用，磁存储密度在 阵列有很多种 但是，随着实验和理论研究的深入， ’ 年已经达到