讲义(试块)教学.docVIP

试块（P 107） 5.1 试块的用途： 测试和校验仪器及探头的性能：水平线性、垂直线性、动态范围、盲区、（阻塞范围）分辩力、探头回波频率。 调整仪器的灵敏度和确定缺陷大小。 调整探测距离和确定缺陷的位置。 测试材料的声学特性 如声速，衰减, 晶粒度 即：两调两定两测试(调整仪器的灵敏度,调整探测距离。确定缺陷大小，确定缺陷的位置。测试和校验仪器及探头的性能，测试材料的声学特性) 5.2 试块的分类： 1.按标准化分类 A、标准试块 B、对比试块 2.按用途分类 A校验试块 B、灵敏度试块 3按标准反射体分类： A平底孔试块 B 横通孔试块C 槽口试块 4.按检测对象分类 A、锻件试块 B 、焊缝试块 C、板材试块 D 管材试块 及棒、坯、丝、带、轨等试块。 5.3 试块设计与加工 5.4 常用试块介绍（P112） ：IIW试块（CSK－IA试块）： 形状、尺寸 CSK－IA试块 制作要求 20号钢 正火 光洁度 6.3微米 用途与用法 入射点 折射角 水平 垂直 动态 分辩力（纵、横） K值 盲区 0位校正 功率测试 检测范围调整 声束偏斜 信噪比 灵敏度 板材试块： 阶梯试块 平底孔试块 槽形试块 CSK－IA试块：DGS曲线制作 CS－I 试块：AVG曲线制作 灵敏度调整 灵敏度余量 标准：JB/T9214－1999 1 范围 1. 1 本标准适用于在探伤现场条件下测试超声探伤系统的工件性能。超声探伤系统指实际探伤工作中使用的设备，包括A型脉冲反射式超声探伤仪，超声探头及连接它们的高频电缆。测试时只需要使用本标准中规定的标准试块而不需任何电子仪器。 1.2 本标准只规定超声探伤系统性能的测试方法，但不提出系统的性能指标或其验收条件。当需要时，供需双方可事先协商规定验收产品时所使用超声探伤系统应达到的最低性能指标。 1.3 本标准不适用于测试超声探伤仪或超声探头的单件性能。在单独测试其中某一单件时，可按J B/T10061及JB/T 10062分别进行测试，但必须配备适当的电子仪器。 :.:本标准只适用于手工探伤，不适用于自动化超声探伤。 本标准只适用于包括一般接触式超声直探头或斜探头的系统，不适用于包括其它类型(例如双晶式、水浸式等)超声探头的系统。 2 引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB /T 699-1988 优质碳素结构钢钢号和一般技术条件 GB /T 12604.1-1990 无损检测术语超声检测 JB/ T 10061-1999 A 型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件 JB /T 10062-1999 超声探伤用探头性能测试方法 JB/ T 1003-1999 超声探伤用1号标准试块技术条件 3 术语定义 本标准采用下列定义。 3.】灵敏度余量 超声探伤系统中，以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。 3.2 分辨力 超声探伤系统能够把距探头不同距离的两个邻近缺陷在示波屏上作为两个回波区别出来的能力 其它术语定义参照GB /T 12604.10 4测试项目 4. 1 采用直探头时:灵敏度余量、垂直线性、水平线性、分辨力及盲区，分别按照第5、6、7、8、9各章进行测试。 4. 2 采用斜探头时:垂直线性、水平线性、人射点、折射角、分辨力及灵敏度余量，分别按照第6、7, 10, 11、12, 13各章进行测试。 4.3 根据设备使用情况，由使用单位或由供需双方协商规定应测试的项目以及每仪测试的周期。 5 灵敏度余量测试方法 5.1 概要 本测试是为了检查超声探伤系统灵敏度的变化情况，用灵敏度余量值表示。测试时使用DB-P20-2 型试块[见附录A(标准的附录)]，探伤仪的抑制置于‘0’或“断”，其它调整取适当值，最好选取在随后探伤工作中将使用的调整值。 5.2 方法 5.2. 1 将仪器的增益调至最大，但如电噪声较大时应降低增益(调节增益控制器或衰减器)，使电噪声电平降至10%满刻度。设此时衰减器的读数为so. 5.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调节衰减器，使平底孔回波高度降至50%满刻度。设此时衰减器的读数为so 5.2.3 超声探伤系统的灵敏度余量(以dB表示)由式(1)给出: S= Si- S0 ···· ··· ··? (1 ) 6 垂直线性测试方法 6.1 概要 本测试是为了检查超声探伤仪增益线性和衰减器精度两者的综合效果。测试时使用DB-PZ20-2型或Z2