工业硅分析方法及研究进展.pdfVIP

2015年 l2月 云南冶金 DeC．2Ol5 第44卷第6期 (总第255期) YUNNAN METALLURGY Vo1．44．No．6 (Sum255) 工业硅分析方法及研究进展 阮淑呈 ，王劲榕2 (昆明冶金研究院，云南 昆明 650031) 摘 要：综述了工业硅的常用分析方法及近几年国内的研究进展，并对常用方法的特点进行了评述。 关键词：工业硅；检测方法；研究进展 中图分类号：065 文献标识码：A 文章编号 ：1006--0308 (2015)06--0053--05 TheAnalysisM ethodandResearchProgressofIndustrial Silicon RUAN Shu—cheng ，WANGJin—rong (KunmingMetallurgicalResearchInstitute，Kunming，Yunnan650031，China) ABSTRACT：ThecolnrlnonanMysismethodsandthedomesticresearchprogressinrecentyearnofindustriMsiliconissummarized， andhtefeaturesofcommonmethodsarereviewed． KEY W ORDS：industri~ mlieon；detectionmethod；researchprogress 收光谱法测钙、偶氮氯膦 1分光光度法测钙，电感 1 引 言 耦合等离子体原子发射光谱测铁、铝、钙、镍、 工业硅也称金属硅，通常由硅石和焦炭在电热 锰、钛以及 x射线荧光光谱法测铁、铝、钙。近 炉内冶炼而成，其纯度为98％左右，由于其熔点 年来，各种文献报道中工业硅检测涉及的杂质元素 高、耐热性能好，具有较强的抗氧化作用，在钢 不断增加，各种快速、简便、成本低的新方法也不 铁、有色、电子、化工、医药等领域有着广泛的应 断出现，为方便研究者快速了解工业硅中杂质元素 用 ，每年大量出1：7…。随着工业硅后续加工产品 含量的检测方法，本文综述了国内的常用检测方法 要求的不断提高及产品出口量的Et益增加，国内外 及所涉及的检测元素，供研究者参考。 客户对产品微量元素的要求越来越高，为了适应市 2．1 电感耦合等离子体发射光谱法测定工业硅中 场的发展变化及应对可能出现的国外贸易壁垒，必 微量元素 须在工业硅标准中增加除铝、铁、钙外微量元素的 目前，工业硅分析检测的国家标准方法为GB／ 控制。准确分析工业硅中杂质元素含量以确定它的 T14849，其中第 四部分 GB／T14849．4—2008 《电 等级非常重要。 感耦合等离子体发射光谱法测定元素含量》中规 定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍的含量测定 2 工业硅的分析方法及研究进展 方法，样品经氢氟酸、硝酸溶解，高氯酸冒烟去除 目前工业硅分析方法国家标准共分为5个部 硅、氟等，残渣用盐酸溶解。溶液引入等离子体光 分 ，共给出了铁、铝、钙、镍、锰、钛6种元素 谱仪，在选定的最佳测定条件下，测量溶液中各元 的检测方法，方法包括 1，10一二氮杂菲分光光度