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实验一 逻辑门功能测试及其应用研究
目的
学习掌握TTL集成与非门的逻辑功能及主要参数测试方法;
学习掌握三态门逻辑功能,了解“总线”结构的工作原理。
原理
集成逻辑门是数字电路中应用十分广泛的最基本的一类器件,为了合理地使用和充分利用其逻辑功能,必须对它的主要参数和逻辑功能进行测试,本实验中采用TTL中速四2输入与非门74LS00进行测试,74LS00与非门的内部电路和引脚排列如附录所示。
TTL集成逻辑门电路主要技术参数
(1)传输特性
各种类型的TTL门电路,其传输特性大同小异,如图4-1-1所示,这是一条由理论分析所得到的曲线,实际的曲线,可用实验的方法求得,如用示波器扫描来获得,或者通过在输入端输入不同的直流电压,利用直流电压表逐点测量输出电压值的方法得到传输特性曲线。
图4-1-1 电压传输特性
(2)输入和输出的高、低电压
数字电路中的高、低电压常用高、低电平来描述,并规定在正逻辑体制中,用逻辑0与1分别表示高、低电平。作为门电路的技术参数常用高、低电压表示,以V为单位进行量化,有利于具体应用。由于不同类型的TTL器件,其特性各不相同,因而其输入和输出高、低电压也各异。74LS00与非门的输入和输出的高、低电压可由其电压传输特性得出。
(3)传输延迟时间
传输延迟时间是表征门电路开关速度的参数,它意味着门电路在输入脉冲波形的作用下,其输出波形相对于输入波形延迟了多少时间。一般采用平均传输延迟时间表示,它是一个瞬态参数,它是指与非门输出波形边沿的0.5Vm点相对于输入波形对应边沿的0.5Vm点的时间延迟,如图4-1-2所示,其中为导通延迟时间,为截止延迟时间。则门电路的平均延迟时间为。平均延迟时间是衡量门电路开关速度的一个重要指标,按平均延迟时间的不同,TTL门电路有中速、高速和超高速之分,一般中速门电路的为10ns~50ns,高速为2ns~10ns,超高速≤2ns。
图4-1-2 门电路的延迟时间
74LS00中速四2输入与非门的主要参数规范值如表4-1-1所示。
表4-1-1 74LS00型与非门主要性能参数
参数名称 符号 单位 测试条件 规范值 输出高电平 VOH V VI =0.8V, IOH =0.4mA ≥2.4 输出低电平 VOL V VI =2.0V, IOL =4mA ≤0.4 输出高电平电流 IOH mA VI =0.8V, VOH =2.7V ≤0.4 输出低电平电流 IOL mA VI =2.0V, VOH =0.5V ≥8 输入漏电流 IIH μA VI =5V ≤20 输入短路电流 IIS mA VI =0V ≤0.4 输出高电平时电源电流 ICCH mA ≤1.6 输出低电平时电源电流 ICCL mA ≤4.4 开门电平 VON V ≤1.8 关门电平 VOFF V ≥0.8 传输延迟时间 tpd ns ≤30 扇出系数 N0 同VOH 、VOL ≥8
2. 三态门
数字系统中,有时需要把两个或两个以上的集成逻辑门的输出连接起来,完成一定的逻辑功能。普通TTL门电路的输出端是不允许直接连线的。三态门是一种特殊的TTL电路,它允许把输出端互相连在一起使用。
三态门,简称TSL(Three-state Logic)门,是在普通门电路的基础上,附加使能控制端和控制电路构成的。图4-1-3所示为三态门的结构和逻辑符号,三态门除了通常的高电平和低电平两种输出状态外,还有第三种输出状态——高阻态。处于高阻态时,电路与负载之间相当于开路。图(a)是使能端高电平有效的三态与非门,当使能端EN=1时,电路为正常的工作状态,与普通的与非门一样,实现;当EN=0时,为禁止工作状态,Y输出端呈高阻状态。图(b)是使能端低电平有效的三态与非门,当时,电路为正常的工作状态,实现;当时,电路为禁止工作状态,Y输出呈高阻状态。
(a)使能控制端高电平有效 (b)使能控制端低电平有效
图4-1-3 三态门的结构和逻辑符号
三态电路用途之一就是实现总线传输。总线传输的方式有两种,一种是单向总线,如图4-1-4(a)所示,功能表见表1-2所示,可实现信号A1、A2、A3向总线Y的分时传送;另一种是双向总线,如图4-1-4(b)所示,功能表见表4-1-3所示,可实现信号的分时双向传送。单向总线方式下,要求只有需要传输信息的那个三态门的控制端处于使能状态(EN=1),其余各门皆处于禁止状态(EN=0),否则会出现与普通TTL门线与运用时同样的问题,因而是绝对不允许的。
(a)单向总线方式 (b)双向总线方式
图4-1-4 三态门总线传输方式
表4-1-2 单向总线逻辑
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