硬器件实验报告3-集成门电路功能测试.docVIP

2.3集成门电路的功能测试 2.3.1 基本知识点 （1）逻辑值与电压值的关系。 （2）常用逻辑门电路的逻辑功能测试及测试方法。 （3）硬件基础电路试验箱的结构、基本功能及使用方法。 2.3.2 实验仪器与元器件 （1）自制硬件基础电路试验箱、双踪示波器、基本功能及使用方法。 （2）元器件：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、74LS86。 2.3.3 实验内容 1.基本门电路的逻辑功能测试 以74LS00与非门为例，该原件的封装图如下所示： 正确连接好器件工作电源：74LS00 的 1 4 脚和7脚分别接到实验平台的 5 V直流电源的“+5 V和“GND”端处，TTL 数字集成电路的工作电压为 5 V(实验允许±5％的误差)。 连接被测门电路的输入信号：74LS00 有四个二输入与非门，可选择其中一个二输入与非门进行实验，将输入端 A,B 分别连接到实验平台的“十六位逻辑电平输出” 电路的其中两个输出端（如 K1、K 2 对应的输出端）。 连接被测门电路的输出端：将与非门的输出端 Y连接到“十六位逻辑电平显示”电路的其中一个输入端。 确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。 通过开关改变被测与非门输入端 A，B 的逻辑值，对应输入端的 LED指示灯亮时为 1，不亮时为 0。 观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯 LED亮红色时为 1，亮绿色时为 0。 不亮表示输出端不是标准的 TTL 电平。 K1、K 2 共有 4 种开关位置的组合，对应被测电路的四种输入逻辑状态 00，01，10，11，可以改变 K1、K 2开关的位置，观察电平显示 LED的亮灭情况，以真值表的形式记录被测门电路的输入和输出逻辑状态。 观测逻辑值时，用万用表测量出对应的电压值，验正 TTL电路逻辑值与电压值的关系。 比较实测值与理论值，比较结果一致，说明被测门的功能是正确的，门电路完好。如果实测值与理论值不一致，应检查集成电路的工作电压是否正常，实验连线是否正确，判断门电路是否损坏。 测试74LS08（与门）、74LS04（非门）、74LS86（异或门）的功能，将被测芯片插入试验区的空插座，连接好测试线路，拨动开关，改变输入信号，观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验证TTL电路的逻辑功能，记录实验数据于下表中： 输入 与非门 与门 异或门 A B Y U/V Y U/V Y U/V 0 0 1 3.51 0 0.18 0 0.15 0 1 1 3.51 0 0.18 1 3.52 1 0 1 3.51 0 0.18 1 3.52 1 1 0 0.11 1 3.46 0 0.15 输入 非门 A Y U/V ０ １ ３.４６ １ ０ ０.１８ ２．逻辑门的转换 　　利用74LS00与非门组成下列三个电路，并测其逻辑值。 （1） 输入 输出 A Y 0 １ 1 ０ （２） 输入 输出 A B Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 （3） 输入 输出 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 3.门电路的基本应用——组成半加器 测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数 S 是输入 A、B（二进制数）的“异或”，而进位数 C 是 A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图 1.3.3所示。 ⑴ 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接如图 1.3.3所示逻辑电路。输入端A‘’B接“逻辑电平”开关，输出端 S、C接“电平显示”发光二极管。 ⑵ 通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。 输入 输出 A B 进位C 和S 0 0 0 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 2.3.4. 故障排除方法 在门电路组成的组合电路中，若输入一组固定不变的逻辑状态，则电路的输出端应按照电路的逻辑关系输出一组正确结果。若存在输出状态与理论值不符的情况，则必须进行查找和排除故障的工作， 方法如下： 用万用表(直流电压挡)测量所使用的集成电路的工作电压，确定工作电压是否为正常的电源电压 (TTL 集成电路的工作电压为 5 V，实验中 4．75～5．25 V也算正常)，工作电压正常后再进行下一步工作。根据电路输入变量的个数，给定一组固定不变的输入状态，用所学的知识正确判断此时该电路的输出状态，并用万用表逐一测量输入、输出各点的电压。逻辑 l 或逻辑 0 的电平必须在规定的逻辑电平范围内才算正确，如果不符，则可判