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透射电子显微学论文 姓 名:__刘 珺__ 学 号:_2009700206 专业班级:_2009级物理学二班_ 摘 要：本文简要叙述透射电子显微学的发展进程，主要介绍透射电子显微镜的基本原理及应用，通过微观结构结解释其宏观物理性能，发展新应用以及纳米材料的力学性能的研究，从而发展纳米器件。 关键词：透射电子显微镜，纳米材料，SIC纳米线 引言 荷兰人胡克发明了世界上第一台光学显微镜，从而开始了人类使用仪器研究微观世界的新纪元。一个世纪来人们一直用光学显微镜来揭示金属材料的显微组织，借以弄清组织、成分与性能之间的内在联系，指导实践。但是由于光波波长 限制，光学显微镜不能使人类看到更小的范围。随着科学技术的发展，对金相显微分析要求越来越高，有其对其分辨率也是如此。1931年德国科学家利用电子透镜成功发明电子显微镜。电子显微镜的放大倍数提高到上万倍。 先进材料研究与开发的最基本和最重要的问题是弄清楚其结构，电子显微镜因而得以充分应用于先进材料的研究，它可以从原子尺度分析物质的结构和化学成分，从而揭示物质变化的内在显微结构和各种宏观关系，成为凝聚态物理学，化学、生物学等学科的基本研究观察工具。 透射电子显微镜 透射电子显微镜是以波长很短的电子束做照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种具有高分辨本领，高放大倍数的电子光学仪器。 2.1 基本结构及成像原理 它由电子光学系统（镜筒）、电源和控制系统、真空系统三部分组成。 显微镜原理对比图 a)透射电子显微镜 b) 透射光学显微镜 电子枪发射的电子在阳极加速电压的作用下，高速地穿过阳极孔，被聚光镜会聚成很细的电子束照明样品。因为电子束穿透能力有限，所以要求样品做得很薄，观察区域的厚度在200nm左右。由于样品微区的厚度、平均原子序数、晶体结构或位向有差别，使电子束透过样品时发生部分散射，其散射结果使通过物镜光阑孔的电子束强度产生差别，经过物镜聚焦放大在其像平面上，形成第一幅反映样品微观特征的电子像。然后再经中间镜和投影镜两级放大，投射到荧光屏上对荧光屏感光，即把透射电子的强度转换为人眼直接可见的光强度分布，或由照相底片感光记录，从而得到一幅具有一定衬度的高放大倍数的图像。 2.2 TEM的应用 1）可以实现微区物相分析。 GaP纳米线的形貌及衍射花样 2）高的图像分辨率。 3）获得立体丰富的信息。 三极管的沟道边界的高分辨环形探测器（ADF）图像及能量损失谱 4）元素分布分析 5）纳米尺寸的研究 3. 透射电子显微镜对纳米线的操作、测量 利用发展的原位高分辨透射镜单根纳米线的操纵技术，通过对单根SIC纳米线的连续弯曲变形，首次发现了SIC纳米线在室温下具有大应变塑性变形特征。原位动态研究结果表明了大应变塑形是通过劲歌弯曲、位错形核和增殖、非晶化以及SIC的生长的伸长等微结构演变而产生。 多功能的一维纳米材料和器件的基本单元是当前纳米科学技术研究的热点，解释和精确测量一维纳米材料的基本力学性能和外力作用下的结构演变过程，是研究那你器件的开发基本依据，这需要发展全新的实验技术来表征单体纳米材料的力学性能 随着透射电子显微镜和相关部件及透射电子显微学的发展，可以用各种分析方法对材料的微观结构进行综合表征。例如利用场发射电子枪提供的纳米尺度电子束，手机显微像、电子衍射、特征X射线和电子能量失谱等信息，在原子及纳米尺度对纳米材料的微观结构、材料界面、纳米结构和微观电子器件的原子、电子结构进行综合表征。 由于高分辨透射电子显微镜样品和极靴之间距离非常小，很难放入一些机械操作装置，一般需要经过特殊的加工和制造。 针对这种情况，直接在透射电子显微镜铜网上面设计一层对电子束辐照敏感的火棉胶微栅支持薄膜，既能对研究纳米材料起到支撑作用，同时在透射电子显微镜电子束的控制下又能对其施加力的作用，属于电子束诱导的原位变形“智能载网“。该方法避免了复杂的机械结构、使用原位电子束驱动，可以在高分辨透射电子显微镜中实现对单体纳米线应用和应变速率的控制，由于其空间小，可以在高分辨率分析型透射电子显微镜中实现大角度倾转，能够子啊原子尺度下，进行单体纳米材料的动态学行为与显微结构间的关系、成分信息等原位一体化研究，能够充分发挥现代分析高分辨透射电子显微镜的优势，对单体纳米材料的结构-此乃功能相关性进行研究。根据多次试验统计结果显示，该方法对于长度大于10um的单根纳米线，具有较好的可操作性。 利用该方法，可以实现多根SIC和SI纳米线的弯曲和拉伸变形。发现SIC和SI强共价化合物在纳米尺度下具有大的弹性形变特征，从原子尺度解释了SIC，SI等纳米线的塑性变形机制和断裂方式。 4. 参考文献： 【1】