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第一部分 1、请说明德拜-谢乐照相法点阵参数测定中误差的主要来源 1、相机的半径误差 2、底片的伸缩误差 3、试样的偏心误差 4、试样的吸收误差 5、X射线的折射误差 2、请说明X射线衍射实验中精密测量技术有哪些 对于德拜照相法 1) 采用不对称装片法以消除因底片收缩和相机半径不精确引起误 差. 2) 将试样轴高精度地对准相机中心,以消除试样偏心误差. 3) 采用背射线、减少试样直径,以减少试样吸收误差. 4) 曝光时间内,相机保持恒温. 对于衍射仪法： 1) 2θ调零. 2)θ：2θ校正匹配. 3) 正确安装试样,精选并严格控制测试参数  仪器调整、测量条件与方式、制样 （粒度＜8微米，平整度＜0.01mm）. 4) 折射校正 3、晶带轴计算公式（根据两个已知晶面指数，求它们的晶带轴） 设已知中的两个不平行的晶面指数分别为（h1k1L1）和（h2k2L2）， 它们的晶带轴晶向指数为【uvw】 由晶带轴定律, u*h1+v*k1+w*L1=0 u*h2+v*k2+w*L2=0 解得 u:v:w= （k1L2-k2L1）:(L1h2-L2h1):(h1k2-h2k1) 4、阐述原子散射因子随衍射角的变化规律 随sinθ/λ值减小，f增大，sinθ＝0时，f=Z 5、正八面体当中含有哪些宏观对称要素？ 4 3 2 3L4L6L9PC 含有3个4次旋转轴，4个3次旋转轴，6个2次旋转轴，9 个反映面，1个对称中心. 6、分别从吸收限波长和原子序数两个方面表达滤波片和靶材的选择 规则 （表达式） 1、滤波片的选择规则：a： Z靶40时，Z滤＝Z靶-1； b： Z靶≥40时，Z滤＝Z靶-2 2、选择靶材的原则是：Z靶≤Z样+1；或Z靶Z样 第二部分 一、填空题 1、X射线的本质是 （电磁波） ，其波长为 （0.01~10nm） 它既具有 （波动性）性，又具有 （粒子性），X射线衍射分析是利用了它的 （波 动性） X射线的核心部件是 （X射线发射器） 2、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的 （衍射），另一方 面又具有粒子性，体现为具有一定的（质量和能量） 3、莫塞莱定律反映了材料产生的 （特征X射线波长） 与其 （原子 序数）的关系 4、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线，它们是（特征X 射线）和 （连续X射线），其中在X射线粉末衍射中采用的是（特 征X射线） 5、特征X射线是由元素原子中 （内层电子跃迁） 引起的，因此各元 素都有特定的 （特征X射线） 和（激发 ）电压，特征谱与原子序 数之间服从（莫塞莱 ）定律 6、同一元素的λKα1、λKα2、λKβ的相对大小依次为 （λKα1 λKα2λKβ）；能量从小到大的顺序为 （λKα1λKα2λKβ ） （注：用不等式标出） 7、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的方向，即发生 散射现象 X射线的散射包括两种：（相干散射）和 （非相干散射 ） （相干散射） 是X射线衍射分析方法的技术基础 8、布拉格公式是 （2dhklsinθ=nλ） 9、晶体产生X射线衍射的必要条件：（布拉格方程） 10、X射线照射固体物质，产生的可能物理信号有：（散射、光电效 应、透射X射线和热） 基于这些信号建立的分析方法有：（X射线衍 射、X射线荧光光谱、X射线激发俄歇电子能谱、X射线光电子能谱 等） 二、名词解释 1.特征X射线：高速电子撞击材料后，材料原子内层电子被击出而在 内层留下空位，外层电子向空位跃迁时会辐射X射线 不同材料X射 线波长不同，此X射线称为特征X射线 2.散射衬度：样品各部位厚度或元素组成不同，导致入射电子的散 射程度不同，使各部位透射电子密度不同，最终在图像上形成明暗 不同的区域，这一现象称为散射衬度 该衬度原理适用于非晶样品 3、衍射衬度：由于样品中不同位相的晶体衍射条件 （位相）不同而 造成的衬度差别，称为衍射衬度。该衬度原理仅适用于晶体结构样 品 4、二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子 二次电子来自表 面50-500 Å的区域，能量为0-50 eV。它对试样表面状态非常敏感， 能有效地显示试样表面的微观形貌 5、背散射电子：被固体样品中的原子核反弹回来的电子称为背散射 电子 6、点分辨率：表示电镜所能分辨的两点之间的最小距离 7、相干散射：X射线光子与原子内的紧束缚电子相碰撞时，光子的 能量可认为不受损失，而只改变方向 因此这种散射线的波长与入射 线相同，并且具有一定的位相关系，可以相互干涉，形成衍射图样 8、非相干散