嵌入式系统原理应用-Chapter3-ARM7TDMI简介.pptVIP

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  • 2017-07-10 发布于贵州
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嵌入式系统原理应用-Chapter3-ARM7TDMI简介.ppt

嵌入式系统原理应用-Chapter3-ARM7TDMI简介

第三章 ARM7TDMI简介 主要内容 概述 结构和框图 3级流水线结构 ARM处理器的寻址方式 异常 主要内容 中断延迟 复位 指令的预取和自修改代码 协处理器接口 调试接口简介 3.1 ARM7TDMI概述 ARM7TDMI概述: 3.1 ARM7TDMI概述 3.1 ARM7TDMI概述 3.1 ARM7TDMI概述 3.2 ARM7TDMI的模块和内核框图 主核周围有2个扫描线,这是为外部调试服务的扫描逻辑。 主核和外部的总线连接是通过数据总线模块进行的。 数据总线的输入和输出是分开的,而地址线是共用的,也就是说共有32条输出数据总线、32条输入数据总线和32条地址总线。 TAP(test accessing port):用于ARM进行测试和调试。一般外部调试主机使用JTAG通过串行通信来访问ARM处理器,这是一种比较方便的、以ARM为核的单片机的调试方法。 ICE(In Circuit Emulator)在线仿真是一个支持片上调试的单元。 从图上可以看出:这个结构只包括两个部分:一部分是ARM内核和总线;另一个部分是支持仿真调试的关联部件。 ETM接口简介 简介 3.2 ARM7TDMI的模块和内核框图 3.2 ARM7TDMI的模块和内核框图 3.3 三级流水线结构 三级流水线 3.3 三级流水线结构 三级流水线 存

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