AlGaN GaN异质结场效应管(HFET)的可靠性问题.pdfVIP

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  • 2017-05-22 发布于湖北
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AlGaN GaN异质结场效应管(HFET)的可靠性问题.pdf

AlGaN GaN异质结场效应管(HFET)的可靠性问题

Robert J. Trew, Daniel S. Green, Jeffrey B. Shealy AlGaN/GaN 異質結場效應管(HFET )的 可靠性問題 高電壓 AlGaN/GaN 異質結場效應管(HFET )正經歷著 功率可以直到 10W/mm 及更高的水平。採用不同化合物 快速的發展,並且被證明是可用於從 C-波段一直到 W- 半導體所製作的場效應晶體管的功率附加效率基本上是 波段的通信應用基站發射機和雷達發射機中功率放大器 相同的。採用AlGaN/GaN HFET 所製作的放大器已經可 的一個出色的候選技術。基於氮化物的 HFET 能夠產生 以產生400W 的脈衝功率,在S-波段上具有 600MHz 的 比與其競爭的固態器件高得多的射頻功率,並且具有近 帶寬(2.9-3.5GHz )以及50%的PAE[1] ;一個兩級功率 乎於理想的功率附加效率(PAE )。早期器件受到可靠 放大器在 X-波段(7.9-12.4GHz )上可以產生 58W 的功 性問題的困擾,而這個問題制約了人們對它們的接受。 率,38%的PAE 和

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