Fe-6.5％Si高硅钢铁芯与Epstein Square标准单片铁损检测结果对比及数据差异分析.pdf

· 102 · 材料导报 2013年 l1月第27卷专辑22 Fe一6．5 Si高硅钢铁芯与EpsteinSquare标准单片铁损检测 结果对 比及数据差异分析 杨 琨，梁永锋，叶 丰，林均品 (北京科技大学新金属材料国家重点实验室，北京 100083) 摘要 作为一种具有优异高频铁磁性能的合金 ，F 6．5 Si(质量分数)高硅钢在高频工况条件下降损效果明 显，对电气行业应用器件高频化、小型化、节能等具有十分重要的意义。通过与取向硅铜测量BP数据对比，验证了 高硅钢高频超低损特性，且轧制高硅钢与 日本CVD法生产高硅钢存在基本相同的铁损值。采用国标EpsteinSquare 法对0．3Omm高硅钢薄板进行单片测试，并对由0．30mm高硅钢薄板首次装配成的电感器进行铁损测试，对比测试 结果表明，元件测试与单片测试数据基本吻合，高磁感应强度条件下，元件测试结果略低于单片测试，分析原因为：线 圈引起励磁压降；元件叠片间出