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第四章 多晶体分析方法 §4.1 引言 ㈡.德拜相机 三. 摄照规程的选择 2 试样吸收的误差 3 底片伸缩的误差 底片的安装使R也存在误差，可以通过底片卷成圆筒形时的有效周长C0来计算准确的R. C0的测量—可通过2θ90?和2θ90 ?的两对弧对求出， C0 = A+B 所以： 以立方晶系为例（底片为偏装） 1 对各弧对标号：从低角到高角依次标1—1’,2—2’… 2 测量有效周长C0 3 测量弧对间距，注意测量2L外缘，计算出2L0,高角弧对的测量用C0减去相对应的低角弧对，即2L=C0-2L’ 4 计算θ角。 5 计算d值。 6 估计各线条的相对强度I/I1 7 查PDF卡片，根据三强峰对应的d值，鉴定物相。 8 衍射线指标化，判别物质的点阵类型 对于立方系： 衍射线的干涉指数 9 计算点阵常数 根据公式 第三节 其他照相法简介 对称聚焦照相法 1 思路： 同类（HKL）面的衍射线分布在衍射圆锥上，单位弧长上的衍射强度较弱，底片曝光时间很长，若能将同类（HKL）面的衍射线集中于一点，则大大提高衍射强度。 2 聚焦相机的衍射几何 将光源（发散光源）、试样以及反射线的聚焦点设在同一圆上（该圆称为聚焦圆），该圆与相机的内腔重合，底片贴于圆内侧。 由光源发出的X射线经试样上不同部位的同类（HKL）晶面反射后衍射线仍能聚