中国科学院研究生院《近代固体物理分析方法》第三章.ppt

面临困难 ? GMR 产生机制和影响因素------ 微结构 ? AFM/FM 交换耦合机制------- 磁结构 ?NiFe/Cu spin-valve structure NiFe, Cu impossible to be detected by conventional X-ray techniques ----- new detect technique Super-thin system -----detect technique at atomic level ? Problems of microstructure Methods to solve the problems Microstructures high resolution X-ray diffraction reflectivity diffuse scattering reflectivity anomalous fine structure reflective X-ray fluorescence Magnetic structure X-ray resonant magnetic scattering X-ray magnetic circular dichroism X-ray magnetic linear dichroism photoelectron emission microscopy LaCaMnO3/SrTiO3 在LCMO（040）衍射峰附近进行θ/2θ扫描 不同厚度薄膜对应的磁电阻和金属—绝缘性转变温度曲线 为不同厚度薄膜的应力 Holy等人对共面衍射倒易空间的分辨率的分析发现?Qx和?Qz可表达为： 在对称衍射时， ?i ＝ ?f = ? ，假设? ?i ＝ ? ?f = ? ? ，则有 据此，可对衍射仪的分辨率作估算。 在实际操作时，根据需要可以选择不同的分辨率 ? 在研究外延生长的半导体薄膜时，如果外延膜与衬底之 间的晶格失配很小，则对分辨率的最低要求是能分离薄 膜衍射峰与衬底衍射峰。在较高分辨率时，还应能分离 薄膜的厚度干涉条纹。 ? 所研究的对象是完美性较好的均匀薄膜或多层膜时，则 仅要求有较高的Qz分辨率，而不太考虑Qx的分辨率。这 时可以去掉分析晶体，采用大发散的?f角。这种情况 下，Qz方向的分辨率可表达为： ? Qz = 2Kcosai ? ai ? 在掠入射衍射时，由于非零的入射角和出射角，衍射 矢量Q除了Qx和Qy分量外，还有一小的Qz分量。 ? 在X射线衍射运动学近似下，掠入射衍射的分辨率可 以表达为 : 面内衍射矢量 ? 通常在掠入射实验中， ?i与?f的发散度远小于?i 和?f的发散 度，因而 即平行薄膜表面的分辨率主要由??i和??f决定， 而沿Qz方向的分辨率主要由? ?i与? ?f决定。 4. X射线漫散射 ? X射线入射样品表面，可以将介质看作是均匀连续 的，用折射率表示该介质的材料参数。在两种介质 的界面折射率突变，电磁波在界面反射和折射。 反射波矢量与界面的夹角等于入射波矢量与界面的 夹角，叫镜面反射。如果界面粗糙，在非镜面方向 就会有漫散射。 x(x) X射线光源 X射线探测器 样品 狭缝3 单色器 狭缝1 狭缝2 X射线反射和漫散射实验装置示意图 ? 单晶或双晶单色器 保证入射X射线的能量分辨率， 角度分辨率。 ? 狭缝1和2主要是用来降低实验的背底噪音 ? 反射矢量 入射光 出射光 ? q=k2 – k1 k2 k1 入射光 出射光 反射矢量 q=k2 – k1 k1 k2 ? ? X射线反射实验波矢示意图 X射线漫散射实验波矢示意图 ? X射线漫散射可有两种实验安排 (1)固定探测器的位置，即2?保持不变，进行扫描。