滤片-XRD探测系统响应时间测量.pdfVIP

　第 16 卷 　第 12 期 强 激 光 与 粒 子 束 Vol. 16 ,No. 12 　 　2004 年 12 月 HIGH POWER LASER AND PARTICL E BEAMS Dec. ,2004 　 文章编号 : 　100124322 (2004) 1221558205 X 滤片2XRD 探测系统响应时间测量 孙可煦 , 　江少恩 , 　易荣清 , 　黄翼翔 , 　崔延莉 , 　李朝光 ( 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900) ( ( ) 　　摘 　要 : 　研究了软 X 射线能谱仪探测道系统 系统包括 X 射线二极管 XRD 、SUJ250210 电缆和不同频 ) ( 带示波器 的响应时间。实验利用上海激光联合实验室的 20 TW 激光器激光 激光能量约 20J , 脉冲宽度约 1ps) 打金箔靶产生的 X 光 ,用 XRD 探测系统测量 ,记录示波器有 T K684C , T K694C 和 WM8500 等。将实验数 据进行了线性拟合和比对分析。滤片2XRD 探测系统的响应时间随偏压升高而加快 ,随传输电缆长度的增加 而变慢 ,因此测量快信号过程时 , 应提高探测器偏压 ,缩短传输电缆 ,选择宽频带高采样率示波器 , 以便减少系 统的响应时间 ,减小信号失真程度。 　　关键词 : 　软 X 射线 ; 　能谱 ; 　X 射线二极管 ; 　响应时间 　　中图分类号 : 　TN151. 1 　　　　文献标识码 : 　A 　　ICF 实验研究中 ,激光等离子体发射软 X 光的时、空、谱测量极其重要[1 ,2 ] ,除了能谱绝对强度测量十分重 要外 ,能谱发射的时间过程也十分重要。随着激光器升级完成 ,通过多路激光注入腔靶或辐照其它形式靶 ,可 以产生高强度的 X 光。利用这种高强度的 X 光辐射源 ,为深入开展辐射输运、辐射烧蚀及辐射不透明度等一 系列的应用研究提供了可能性。在这一系列的应用研究中 ,辐射场的变化过程 ,始终是我们十分感兴趣的。我 们除了关心辐射场的空间分布外 ,更离不开辐射场变化的时间过程[3 ,4 ] 。 ( ( ) ) [5 ] 　　能谱测量 , 目前滤波法能谱仪 滤片2X 射线二极管 XRD 阵列谱仪 仍具有不可代替的作用。XRD 虽 然具有响应时间快 ,便于作能量响应灵敏度绝对标定等优点。但是 ,迄今为止 ,我们对 XRD 的时间响应特性还 没有做过系统的研究 ,因此 ,XRD 系统响应时间研究也是我们近期工作的重要内容。 1 　实验条件 ( 　　实验利用上海激光联合实验室 20 TW 激光器激光 激 光能量 1～2J ,脉冲宽度约 1ps) ,打金箔靶 ,靶室真空度约 2 - 3 ( ) ×10 Pa 。被测探测器有 X 射线二极管 XRD 和光电导 ( ) 探测器 GaAs 等。信号传输电缆为 SUJ25027 高频电缆 , 记录示波器有 T K684C , T K694C 和 WM8500 等。实验装 置如图 1 所示。 2 　实验结果 　　上海激光联合实验室的 20