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齐纳安全栅瞬态效应的测试系统 高杰敏，等 齐纳安全栅瞬态效应的测试系统 Test Sγstem for Transient Effects of Zener Safety Barrier 志在在生l 徐建年2 (上海理工大学光电信息与计算机工程学院t ，上海 2αlO93: 上海工业自动化仪表研究院2. 上海 2∞233) 摘 要: 针对传统安全栅测试评估手段的不完善，为满足国家标准中二极管安全栅的型式试验，设计了一种齐纳安全栅麟态效应的 测试系统。 该系统以齐纳二极管为研究对象，从本质安全的角度，分析了运行在最不利条件下的齐纳二极管预先击穿时间。 通过试 验确定脉冲电流的宽度与领值; 以绝缘栅双极型晶体管( IGBT) 为核心元件，并采用大电容储能网络，设计了脉动电流源。 实践表明， 该测试技术有效地验证了安全栅承受麟态效应，为确保防爆安全提供依据。 关锺词:安全栅齐纳二极管幌态效应本质安全防爆安全预先击穿时间脉冲电流脉宽 IG盯 中图分类号:四7;TP27 文献标志码:A ∞1:10. 1ω86/j. c出i. issn 1 ω-0380.201 6阴19 Abstract: Aiming at the shortages of Il8ditiona1 test and eva1uation melhod for safety barriers ,and for achieving the type test oI diode safety barrier in accomance with the nationa1 standard ,a novel test system for the lransienl responses of Zener 锦fety barrier is designed!. For intrinsic ωfety ,the system lakes the Zener diode 8s the research objecl i 即pre - breakdown time of Zener diode under the worst ∞叫itions is ana1yzed. ηuough experiments ,the wi dth and amplitude of the p川seωrrent are determined ,insulated - gate bipolar transistor( IGBT) is selecled 10 be the core ∞回归nenl， and the pulse curr刷刷JCCe is designed by adopting largeωpacitance energy storage network. The practice shows 由at the test technology effectively verifies the safety barrier百 can 民缸lranSienl effects ,and provides basis of ensuring explosion - proof safety. Keywords: Safety barrier Zener diode Transient effect Intrinsic safety Explosive - proof safety Pre - breakdown time PuIse c旧陀nt Pulse wid由 lnsulated - gate bipolar 缸ansistor (IGBT) o 51 言 1 二极管安全栅 1.1 二极管安全栅结构 近年来，随着大型现代化钢铁、 煤炭、石油化工企 业的高速发展，以及自动化程度的不断提高，在涉及爆 二极管安全栅的典型电路如困 l 所示。 它由快速