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材分析期末自测 一，填空题（20分） 晶体内各原子对X射线的 是衍射的基础。X射线晶体衍射的基本公式为布拉格方程 ，它的含义是： 。由于晶面衍射与光学镜面反射有本质区别，所以又称衍射为 ，但一晶面（hkl）满足布拉格方程仅是其产生衍射的必要条件，只有同时满足 才能得到衍射束。 X射线与物质的相互作用有：（ ） （ ） （ ）。 连续X射线强度取决于 X射线衍射方法有 X射线靶材的选择原则是 滤波片的选择原则是 X射线衍射仪由 等部分组成。 在X射线衍射仪过程中扫描速度和时间常数过大会造成 为保证探测器能接收到各衍射面的衍射线，X射线衍射仪的测角仪衍射几何构造要满足 、 。衍射仪常用测量方法有 扫描和 扫描。 任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成的，即（ ）、（ ）、（ ）（ ）、（ ）。 德拜—谢乐法常用于点阵常数精确测定。其系统误差的来源主要有： ； ； ； 等。 点阵参数的精确测定的主要方法： 电磁透镜由（ ）、（ ）、 （ ）系统构成。 透射电镜的主要特点是可对试样进行 与 同位分析.使中间镜物平面与物镜 重合时，在观察屏上得到的是反映试样 的图像；当中间镜物平面与物镜 重合时, 在观察屏上得到的是反映试样 花样。 扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处,二次电子产额 , 在荧光屏上这些部位的亮度 而平面、凹槽底部处二次电子的产额 , 荧光屏上相应部位的亮度 。 通过接收试样表面发出的背散射电子，扫描电子显微镜以 （ ）衬度成像，由于背散射电子产额对试样的 （ ）十分敏感，因此利用该衬度原理可对试样进行 （ ） 分析，样品中 （ ）区域相对于图像上是亮区。 电子探针的功能主要是进行样品的 （ ） 分析。原理是用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品的（ ），通过分析其（ ），即可知样品中所含元素的种类(定性分析)，分析其 （ ） 则可知样品中对应元素的含量(定量分析)。 二，辨析并解释下列概念 光电效应、俄歇效应 相干散射、非相干散射 背散射电子、二次电子 连续X射线谱、特征X射线谱 质厚衬度、衍射衬度 三，简答题 物相定性分析的原理是什么？简述利用X射线衍射仪法进行两相混合物物相分析的过程。 简述物相定量分析的基本原理，说出K值法进行定量分析的过程。 多晶体材料的晶粒大小与其衍射峰特征有何关系？说明利用衍射仪测定一纳米多晶材料晶粒大小的步骤。 现测得一立方晶系固溶体的衍射图谱，说明如何利用外推函数法进行点阵常数精确测定获得固溶体中溶质的含量。 利用X射线进行结晶度的测定。 电磁透镜的像差是怎样产生的，如何消除和减少像差。 透射电子显微镜中有哪些主要光阑？在什么位置，其作用如何？ 分析电子衍射和X射线衍射有何异同？ 用爱瓦尔德图解法证明布拉格定律 证明电子衍射基本公式 请说明已知相机常数???样品晶体结构的单晶体电子衍射花样的标定程序。 倒易点阵与正点阵之间关系如何？倒易点阵与晶体的电子衍射斑点之间有何对应关系。 画图说明衍衬成像原理，说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。 电子束入射固体样品表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和用途？ 扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同? 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 用不同的信号成像时，其分辨率有何不同? 所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率? 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？ 什么是波谱仪和能谱仪，以及之间分析的区别。 举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。 四，计算题 计算简单，体心，面心点阵的结构因子FHKL，并推导点阵的系统消光规则 画出面心立方[001]晶带的标准零层倒易截面