GIS密封试验方法的分析与改进.docVIP

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GIS密封试验方法的分析与改进

GIS密封试验方法的分析与改进摘? 要:密封试验是检验GIS密封性能是否良好的一项重要试验项目,要求操作方法正确,测试结果准确。本文对目前常用的GIS的密封试验方法进行了分析,并对不完善之处进行了改进,取得了较好的效果。 关键词:GIS;密封试验;方法;分析;改进 ? 一、概述 六氟化硫封闭式组合电器(简称GIS),具有占地少、运行安全可靠、维护方便等优点,其绝缘、灭弧介质为SF6气体,要求具有良好的密封性能。GIS设备安装程序为:基础预埋→间隔机架位置和高层确定→间隔就位→连接母线、操作机构等→控制盘就位→二次配线→充气→SF6气体检漏、水分检查→二次调试→耐压试验等。其中部分工作可以交叉提前进行。GIS的密封性能是检验其可靠性的重要指标,是实现其安全可靠运行的前提条件。 GIS经现场安装,应对其拆装对接的每一处密封环节要进行严格的密封试验,如果存在漏点则必须返工处理,直至合格,以保证整个气室的年漏气率符合标准。密封试验是检验GIS安装质量的一项关键工序。操作方法正确,测试结果准确,方可保证GIS在运行中的安全可靠性。 ?二、密封试验方法 密封试验是通过检测SF6气体的泄漏量,来判定气室的年漏气率是否合格,控制标准是每一独立气室的年漏气率不大于1%;《电气设备交接试验标准》(GB-50150一91)第12.0.14条文说明中提出两种试验方法和控制标准: 1、采用灵敏度不低于l×10-6(体积比)的检漏仪对气室密封部分、管道接头等处进行检测时检漏仪不报警则认为合格。 2、采用局部包扎法,待5h后检测每个包扎腔内 SF6含量不大于30 ppm(体积比)即为合格。 目前采用较多的是第二种试验方法,其实施程序是:抽真空检验→充注SF6气体→泄漏检验。具体过程为:在GIS经真空检漏并充注SF6气体24 h后,用塑料薄膜在法兰接口等处包扎,再过5h后进行检测,如果有一处薄膜内SF6气体的浓度大于30 ppm,则该气室漏气率不合格。如果所有包扎薄膜内SF6气体的浓度均小于30ppm,则认为该气室漏气率合格。 三、 GIS试验方法存在的弊端 1、未做定量检测,致使检测结果不准确 以上介绍的两种方法均未测定年泄漏率,其实质是判断性的定性检测。 在实际操作中,一个气室的所有密封环节经检测漏气量均小于30ppm则认为合格,但是其中若有2~3个密封环节的漏气量接近30ppm,根据验算,该气室的年漏气率就会超过1%。所以按上述试验方法结果合格并不能保证气室年漏气率小于1%的控制标准。 实质上每个气室年漏气率不大于1%和每个密封环节的漏气量不大于30ppm,这是两个不同概念、不同层次的控制量,不能以每个密封环节的漏气量不大于30ppm作为控制年漏气率的标准。在110kV杜家庄变和110 kV彭家寨变GIS的安装中,发现经检测合格的气室,一段时间后漏气量超标,这与该试验方法的不准确性有必然联系。 2、 GIS密封试验时的环境状况与实际运行情况不相符 按设备说明书要求,密封试验是在充入SF6气体至额定压力(20℃)后进行,并没有考虑到高低温时设备的状况。实际情况是GIS在运行中受环境气温以及分、合闸灭弧的影响,气室压力与额定压力(20℃)并不相同。GIS气室检漏时的状态与运行可能出现的状态并不相符,导致检测结果的不可靠。在额定压力下检测合格的气室,当超过额定压力时就可能变为不合格。 3、缺少有效的预控手段 抽真空检漏作为预控措施,其作用有限,并不能有效地发现所有漏点。通过抽真空能发现较大的泄漏点及硬性环节的漏点,而对于微漏点及柔性密封处的漏点则不能有效检出。施工经验证明:真空检漏良好而充入SF6气体后,检漏超标的情况时有发生。因此可以得知,目前气室在充SF6气体前的预控手段还缺少有效性。 四、GIS 密封试验方法的改进措施 1、实施定量检测、验算年漏气率 《气体绝缘金属封闭开关设备现场交接试验规程》(DL/T618-1997)中第8.l条提出了密封性试验包括定性检漏和定量检漏两个部分。《电气设备交接试验标准》(GB50150-91)中第13.0.4条也提出采用收集法进行测量时,应以24 h的漏气量换算出年漏气率。GIS的定量检漏采用局部包扎法,具体操作方法应符合标准要求,依相关公式计算出每个气室的年漏气率。有了年漏气率,才能提出具体的补气间隔时间,从而保证GIS在运行中密封性良好。 2、适当提高密封试验时的SF6气体压力值 GIS在常温下做气体密封性试验的状态与实际运行情况并不相符(尤其是户外式GIS)。完善的试验方法是应对GIS做高、低温时的密封试验,但交接试验规程及设备技术条件对此未作规定。考虑到当气室内SF6气体压力增高时其泄漏量也会随之增加,为严格考核密封状况,其试验压力值应高于额定压力值,根据经验高出0.05 Mpa为宜。根据SF6气体压力--温

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