现代材料分析方法3_红外光谱-郑州大学.ppt

Deliang Chen (Zhengzhou University) 3 红外吸收光谱 陈德良 郑州大学 钨酸基有机-无机混杂纳米晶的FTIR谱图 偶极矩 （dipole moment ） 正、负电荷中心间的距离r和电荷中心所带电量q的乘积，叫做偶极矩μ＝r×q。 偶极矩μ是一个矢量，方向规定为从负电荷中心指向正电荷中心。偶极矩的单位是D（德拜）。 根据讨论的对象，偶极矩可以指键偶极矩，也可以是分子偶极矩。分子偶极矩可由键偶极矩经矢量加法后得到。 实验测得的偶极矩可以用来判断分子的空间构型。例如，同属于AB2型分子，CO2的μ=0，可以判断它是直线型的；H2S的μ≠0，可判断它是折线型的。可以用偶极矩表示极性大小。键偶极矩越大，表示键的极性越大；分子的偶极矩越大，表示分子的极性越大。 光谱的解析中最直接、最可靠的方法是直接查对标准谱图。 常用的书及谱图集有如下几种： (1) Hummel和Seholl等著的“Infrared Analysis of Polymers，Resins and Additives, An Atlas”。已出版三册：第一册为聚合物的结构与红外光谱图，第二册为塑料、橡胶、纤维及树脂的红外光谱图和鉴定方法，第三册为助剂的红外光谱图和鉴定方法。 (2) Afremow和IsaKson等编的“Infrared Spectroscopy Its Use in the Coating Industry”，谱图按聚合物类别划分。 (3) Colthup，Daly和Wibedey编著的“Introduetion to lnfrared and Raman Spectroscopy”，对分子的基团频率作了详细的介绍。 (4) Sadtler的“单体和聚合物的红外光谱图”目前已收集了1万多张聚合物和单体的红外谱图。 3.7 红外光谱的解析 3.7.1 红外光谱解析的标准谱图方法 3.7.2 红外光谱的解析 (1) 基团特征频率图和基团特征频率表 红外光谱的解析的两个重要工具——红外光谱特征基团频率图和特征基团频率表。 特征基团频率图给出了各类化合物所含主要官能团振动频率。 特征基团频率表则可分为两种，一种是基团—频率表和频率—基团表，这种设定方法非常有助于根据基团查频率或根据频率查对应基团。 特征基团频率图1 特征基团频率图2 (a)谱带位置: 即谱带的特征振动频率，表明某一基团存在的最有用的特征。 (2) 谱带的三个特征 谱带强度的表示方法有透光度法和吸光度法。 透光度T： T=I/I0×100％ 式中：I0为入射光强度；I为入射光被样品吸收后透过的光强度。 吸光度A： A=log(1/T)=log(I/I0) (b)谱带强度: 可以作为判断基团存在的另一个佐证。谱带强度除与基团自有特征(极性)有关外，还与该基团存在的浓度相关。 (c) 谱带形状: 谱带的形状常与谱带的半峰宽相关，即谱带的宽窄。 有时从谱带的形状也可以得到有关基团的一些信息。 例如氢键和离子的官能团可以产生很宽的红外谱带。 酰胺基团的羰基伸缩振动和烯类的双键伸缩振动均在1 650 cm-1附近产生吸收，但酰胺基团的羰基大都形成氢键，其谱带较宽，很容易和烯类的谱带区别。 谱带的形状也包括谱带是否有分裂，可用以研究分子内是否存在缔合以及分子的对称性、旋转异构、互变异构等。 红外光谱的解析应先从官能团区(4000~1300 cm-1)入手。 按该区出现的主要吸收峰波数到“基团频率图” 中去找该峰可能归属于何种官能团； 然后再对照图中该官能团同一栏内的旁证峰，即该官能团的其他次要振动峰是否出现在被检测的样品谱图中。 如果主要吸收峰和旁证峰都有，就表明样品中含有此种官能团，也就可以据此推断样品属于哪一类化合物。 3.7.3 红外光谱的解析步骤 在确定了主结构后，根据其他次强峰判断样品精细结构。 否定法和肯定法：即根据基团频率图将红外光谱图分成几个不同的区域，这些区域中分别存在特定基团的振动吸收谱带，如果谱图在某个区域出现吸收，则可推断样品中存在相应基团，否则可认为不存在相应的结构。 (1)卤化物压片法 为最常用的制样方法，具有适用范围广、操作简便的特点。一般可干燥研磨的样品均可用此法制样。 卤化物中最常用的是溴化钾，制备方法为将溴化钾和样品以200:1质量比相混后仔细研磨，在4×108~6×l08Pa下抽真空压成透明薄片。 由于溴化钾易吸水，所以应事先把粉末烘干，制成薄片后要尽快测量。 3.8 红外光谱的样品制备技术 (2) 薄膜法 用薄膜法测量红外光谱时，样品的厚度一般为1至数微米。 样品过厚时，许多主要谱带都吸收到顶，彼此连成一片，看不出准确的波数位置和精细结构。 定量分析对样品厚度的要求更苛刻，薄膜制备的方法有溶液铸膜