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, 粉体学基础 第一节 概述 粉体学(micromeritics)是研究无数个固体粒子集合体的基本性质及其应用的科学。 通常100μm的粒子叫“粉”，容易产生粒子间的相互作用而流动性较差； 100μm的粒子叫“粒”，较难产生粒子间的相互作用而流动性较好。 单体粒子叫一级粒子（primary particles)；聚结粒子叫二级粒子（second particle)。 粉体的物态特征： ①具有与液体相类似的流动性； ②具有与气体相类似的压缩性； ③具有固体的抗变形能力。 粉体学是药剂学的基础理论，对制剂的处方设计、制剂的制备、质量控制、包装等都有重要指导意义。 第二节 粉体粒子的性质 一、粒子径与粒度分布 二、粒子形态 三、粒子的比表面积 粒度分布（particles size distribution)表示不同粒径的粒子群在粉体中所分布的情况，反映粒子大小的均匀程度。 粒子群的粒度分布可用简单的表格、绘画和函数等形式表示。 粒径的测定方法与适用范围 是将粒子放在显微镜下，根据投影像测得粒径的方法，主要测定几何粒径。 光学显微镜可以测定微米级的粒径，电子显微镜可以测定纳米级的粒径。测定时应避免粒子间的重叠，以免产生测定的误差。 主要测定以个数、面积为基准的粒度分布。 将粒子群混悬于电解质溶液中，隔壁上设有一个细孔，孔两侧各有电极，电极间有一定电压，当粒子通过细孔时，粒子容积排除孔内电解质而电阻发生改变。 利用电阻与粒子的体积成正比的关系将电信号换算成粒径，以测定粒径与其分布。 测得的是等体积球相当径，粒径分布以个数或体积为基准。 混悬剂、乳剂、脂质体、粉末药物等可以用本法测定。 是液相中混悬的粒子在重力场中恒速沉降时，根据Stocks方程求出粒径的方法。 Stocks方程适用于100μm以下的粒径的测定，常用Andreasen吸管法。测得的粒径分布是以重量为基准的。 Stocks径的测定方法还有离心法、比浊法、沉淀天平法、光扫描快速粒度测定法等。 是利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。 可测定100μm的粒子，但不能测定粒度分布。 是应用最广的测量方法。常用的测定范围在45μm以上。 方法：将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列，将一定量粉体样品置于最上层中，振动一定时间，称量各个筛号上的粉体重量，求得各筛号上的不同粒径重量百分数，获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。 筛号与筛号尺寸：筛号常用“目”表示。“目”系指在筛面的25.4mm（1英寸）长度上开有的孔数。 如开有30 个孔，称30目筛，孔径大小是24.5mm/30再减去筛绳的直径。所用筛绳的直径不同，筛孔大小也不同。因此必须注明筛孔尺寸。 各国的标准筛号及筛孔尺寸有所不同，中国药典在R40/3系列规定了药筛的九个筛号。 系指一个粒子的轮廓或表面上各点所构成的图像。 定量描述粒子几何形状的方法：形状指数（shape index）和形状系数（shape factor）。将粒子的各种无因次组合称为形状指数，将立体几何各变量的关系定义为形状系数。 三、粒子的比表面积 （一）比表面积的表示方法 粒子的比表面积(specific surface area)的表示方法根据计算基准不同可分为体积比表面积SV和重量比表面积SW。 Sw=6/?dvs； Sv=6/dvs Sw ,Sv分别为重量和体积比表面积， ?为粒子真密度，dvs体积面积平均数径。 比表面积是表征粉体中粒子粗细的一种量度，也是表示固体吸附能力的重要参数。可用于计算无孔粒子和高度分散粉末的平均粒径。 直接测定粉体比表面积的常用方法有： 气体吸附法 气体透过法 气体透过法只能测粒子外部比表面积，粒子内部空隙的比表面积不能测，因此不适合用于多孔形粒子的比表面积的测定。 还有溶液吸附、浸润热、消光、热传导、阳极氧化原理等方法。 第三节 粉体的密度与空隙率 （一）粉体密度的概念 粉体的密度系指单位体积粉体的质量。 由于粉体的颗粒内部和颗粒间存在空隙，粉体的体积具有不同的含义。 粉体的密度根据所指的体积不同分为：真密度、颗粒密度、松密度三种。 1.真密度（true density) ρt 是指粉体质量（W）除以不包括颗粒内外空隙的体积（真体积Vt）求得的密度。 3.松密度（bulk density) ρb 是指粉体质量除以该粉体所占容器的体积V求得的密度，亦称堆密度。 填充粉体时，经一定规律振动或轻敲后测得的密度称振实密度（tap density） ρbt。 1.真密度与颗粒粒度的测定：常用的方法是用液体或气体将粉体置换的方法。 （1）