第十二章 点阵常数的精确测定.pptxVIP

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  • 2017-06-01 发布于浙江
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第十二章 点阵常数的精确测定

点阵常数晶体物质的重要参量,它随物质的化学成分和外界条件而发生变化; 许多材料研究和实际应用问题,都与点阵常数的变化密切相关;如晶体物质的键合能、密度、热膨胀、固态相变等; 上述过程中,点阵常数的变化一般很小(约为10-4?)数量级。;主要内容;8.1 点阵常数精确测定的原理;以立方晶系为例,点阵常数的计算公式为:; 若各?角下的测量误差相同,则高?角对应的sin?误差比低?角对应的sin?误差小。;对布拉格方程微分,可得;点阵常数的相对误差 与cot?成正比。; 测量误差分为偶然误差和系统误差两类。 偶然误差没有一定的规律,永远不可能完全消除,只能通过反复测量将其降到最低限度。 系统误差由实验条件确定,一般以某种函数关系作规律性变化,因此可以选用适当的数学处理方法将其消除。;8.2 德拜—谢乐法的系统误差;;综合上述因??,可得:;8.3 衍射仪法的主要误差;不能用利用外推函数消除的误差;8.4 外推法消除系统误差;;3)对衍射仪法,不能用一个统一的外推函数消除全部系统误差。只能采用逐项处理或总体处理两种办法消除系统误差。实际处理时,只能以某种函数为主选取外推函数。

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