过滤、校准和测量.docVIP

4过滤、校准和测量 本小节的教学目的是引领您了解过滤和测量工具。在本课程中，您将： 从Image-Pro Plus数据库中装入一幅图像。 使用锐化滤镜来强调图像中的对象边缘。 按微米为单位来校准空间刻度以进行测量。 使用手动和自动轨迹测量工具来测量图像对象。 将测量存储为一个ASCII文件。 本练习大约需时25分钟。 设置：如果您还未启动Image-Pro Plus，则请双击Image-Pro Plus文件中的Image-Pro Plus图标。当启动了Image-Pro Plus后，您即可按照下述操作步骤进行练习。 Image-Pro设置是否与本教学中对话框上的设置完全相同。如果Image-Pro 5.1中还保留有早期练习的一些设置，则Image-Pro 5.1中的设置可能会与本次练习所用到的设置不一致。 从数据库中装入图像 在本练习中，您将从Image-Pro Plus数据库中装入名为Circuit.tif的图像。 1.  从文件菜单中选择Image Database命令。 Image-Pro打开数据库并装入示例数据库DBIPP.MDB-Folder:Sample。 DBIPP.MDB-Folder：Sample是一种图库布局格式，可从Image Database菜单栏上的选项菜单中选择。 2. 从图像图库中双击Circuit.tif图像以打开此图像。 将在的Image-Pro Plus工作区中打开Circuit.tif图像窗口。这是一幅蚀刻了的印刷电路板(PCB)图像。 3. 从文件菜单中选择退出，关闭此数据库。 继续本练习的下一个步骤：锐化图像。 锐化图像 Circuit.tif图像的边缘。由于您将要测量此图像中电路板的轨迹，因而轨迹应清晰且有明显示的边缘。锐化将强化轨迹的端点和电路板的始点。 1. 从处理菜单中选择滤镜…命令。 出现滤镜对话框。 2. 点击增强选项卡页面中的锐化单选按钮。 3. 将选项组框中的强度值设置为8。 这将以锐化滤镜最大强度的80%来应用此滤镜，此强度值将产生一个显著的但非极端的滤镜应用。 注意：当您在强度字段中键入数字时，将会出现两个特殊的数据按钮。 Image-Pro Plus将通过这两个按钮来输入或清除键入到字段中的数据。点击校验标记( ()按钮确认此字段中输入的数字（按回车键也具有同等作用）。此时，Image-Pro Plus将执行有效性检查。如果输入的数据超出了此字段允许的数值范围，则校验标记按钮和X按钮将不会消失。点击X按钮清除此字段中的数据，并将恢复此字段的值到初始值。 如果通过选项的值不是其默认值1，请在继续下一步骤之前将其设置为1。 4. 在示例窗口中点击以预览效果。 在示例窗口中拖动可预览图像其它部分的应用效果。 5. 点击应用按钮。 将锐化Circuit.tif图像。现在，图像的边缘和细则更为显著。 6. 关闭滤镜对话框。 继续本练习的下一个步骤：校准空间刻度。 校准空间刻度 本步骤将建立与此图像相关联的测量单位。默认情况下，Image-Pro Plus将以像素为单位来测量所有的空间。您将要更改空间刻度，使得Image-Pro Plus以微米为单位来进行测量。 这幅精确的图像是用标识为1微米长的校准条标记的。此校准条表明应指定1微米长度应用到Image-Pro Plus中。您将使用缩放工具来放大此图像以便于进行一个精确的测量。 1.  从工具栏中选择缩放工具。 鼠标指针变成了一个放大镜。 2. 将缩放指针（放大镜）放到位于右下角的校准条上。 3. 点击鼠标左键。 Circuit.tif图像被放大至其原始尺寸的2倍。状态栏上显示了此放大量。 4. 再次放缩放指针放到校准条上并点击鼠标左键，再次将图像放大2倍。 Circuit.tif图像被放大至其原始尺寸的4倍。 5. 从测量菜单中选择校准次级菜单，然后选择空间…选项。 出现空间校准窗口。 6. 点击新建按钮。 校准字段被激活，并且在名称字段中自动出现Spatial Cal 0的名称。 名称字段可标识您将要创建的校准值的设置。您可将校设置保存下来，以便您再次需要时可方便地调用。 7. 删除名称字段中的内容并键入：circuit x5000 这将会把您要创建的校准设置指定到该名称。 8. 删除单位字段中的内容并键入：microns 这使得Image-Pro Plus会将您的测量标记为微米，而不论是否创建空间测量报告（如测量数据表或直方图中）。您也可通过滚动单位列表框，查看有效的选择，然后选择测量单位。 9. 点击像素/单位组框中的图像按钮。 出现标度对话框，同时图像中自动添加了一条定义线。请确信参考描述为1