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超导移频磁铁X光光束线
光束線技術研發
超導移頻磁鐵X光光束線
Superconducting Wavelength Shifter
X BL01A BL01B BL01C BL01A
X image BL01B 520 keV X
BL01C633 keV X EXAFS X
XRD
本 中 心 已 經 安 裝 特 殊 設 計 的 超 導 移 頻 磁 鐵 性能,首先量取陰極射線管電子槍的影像,結果顯示
【1】 ,以產 即使是封裝的電子槍,也可以清楚地分辨出鎢絲及其
(Superconducting Wavelength Shifter)
生高光子通量及高能量的X光光源。我們利用此光源 氧化物保護層。另外也測量果蠅頭部的影像,其內部
引出三座X光光束線 【2,3】 ,分別是BL01A、BL01B以 精細的結構清晰可見。相位對比X光顯像的技術利於
及BL01C,如圖一所示。其中BL01A目前為白光光束 觀察低原子序物質和生物樣品的內部結構,對於生命
線,進行X光顯像(image)的實驗。將來可安裝槽 科學的研究以及醫藥的研發十分重要。
切式(channel-cut)晶體以及高倍率的K-B聚焦鏡系統, BL01B使用超導移頻磁鐵光源水平方向中央部分
進行與微米光束(micro-beam)相關的實驗,例如 的3 mrad,光譜能量範圍為5∼20 keV。主要的光學
微斷層掃瞄(micro-tomography)等。BL01B光束線 元件包括一個圓環聚焦鏡(toroidal focusing mirror)
光譜的能量範圍為5∼20 keV,可作小角度散射以及 和一個非色散式雙晶分光儀(double crystal mono-
X光顯微術等相關的實驗。BL01C光束線光譜的能量 chromator)。圓環鏡鏡面的鍍膜採用銠(Rhodium),
範圍為6∼33 keV,可作X光吸收能譜與X光繞射方面 以3.2 mrad的掠角入射,如此鏡面反射率可達90%,
的實驗。這三座光束線已完成建造及性能測試,即將 光子強度的截止能量為21 keV。此聚焦鏡位於距離光
開放使用。本報告將敘述這三座光束線至目前為止性 源15.5 m處,聚焦於離光源30.2 m處,在此可放樣品
能的測試結果。 或偵測器,聚焦鏡的聚焦比例(物距/像距)約為1。
BL01A使用超導移頻磁鐵光源水平方向最靠外側 雙晶分光儀位於20.8 m處,晶體採用Ge(111)以獲
的1mrad,光束經過一個水冷卻的限光器及二個 得較高的光子輸出通量。目前此實驗站安裝小角度散
250 µm厚的鈹窗,到達位於離光源18.6 m處的實驗站, 射的系統,可研究高分子、生物溶液以及高溫合金的
目前進行相位對比(phase-contrast)X光顯像實驗。 結構分析。今(93年)九月此實驗站將安裝一套空間
此實驗系統的空間解析度為1µm ,光束線光子的強度 解析度設計值為60 nm的三維X光奈米顯微儀,進行
很大,700-microns視場(filed-of-view)的偵測攝影 性能測試。此顯微儀建造完成後將可作二維顯微術、
機於10 ms的時間即達飽和狀態。為了測試此系統的 相位對比顯微術以及三維電腦斷層等。
圖一 超導移頻磁鐵光束線BL01A, BL01B及BL01C光學元件配置圖。CM:圓柱準直鏡,DCM:雙晶分光儀,FM:圓環聚
焦鏡,Image:顯像術,EXAFS:X光吸收譜,XRD:X光繞射,SAXS:小角度散射,Microscopy :顯微術。
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