05材料微观研究方法-微晶尺寸的xrd测定new1.pptVIP

材料微观研究方法 长春工业大学研究生课程 微晶尺寸的XRD测定 即：? ? ?+? 也存在一定衍射强度 那么，光程差?? ： ?? =2dSin(?+?) =2dSin?Cos?+2dSin?Cos? =?+2d ?Cos? 2? 2?+2?1?2 2?-2?1?2 = 4?1?2 ?hkl 一. 基本原理 Bragg公式： 2dSin? =?? =? 当晶体尺寸20～30nm， 衍射峰展宽。 衍射峰半高宽 ： ?hkl = 4?1?2 hkl? 衍射矢量方程： :入射X线的单位矢量 以1/?为单位 :反射X线的单位矢量 :衍射矢量 符合Bragg公式： 2dSin?=??=? (晶体无限厚) 建立: ? 偏差与相位差 ? 与微晶尺寸D的关系 2? 已知 ？ 2? hkl? ＃爱瓦尔德作图法： 反射球半径1/? 2? 2? ① 当晶体无限厚, 落在爱氏球面(反射球面)上。 ∵ ∴ (hkl)* 在倒空间是一倒易点 衍射峰窄小 晶体的倒易空间点阵 ＃爱瓦尔德作图法： 反射球半径1/? 2? ② 当晶体很小时： 为满足爱氏作图法原理 显然，倒易点 (hkl)*应该是具有 一定体积的倒易球。 倒易球和爱氏球面相交为一弧面， 衍射峰才能发生展宽。 的偏离： 即存在 对 *偏离量值 与衍射强度关系： 设：原