元器件检验通用标准剖析.doc

 来料检验标准 版 本：第三版 文件编号：WI/HV-12-001 受控状态： 碳膜电阻 修 改 页： 第 1 页 共 53 页 抽样检验标准： 依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65 MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷 序号 检验 项目 检 验 标 准 及 要 求 AQL 检验方法 1 外观 色环标识 色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致. 用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。 MI 目测 元件体 电阻有无破损，引脚是否氧化。 MI 目测 2 尺寸 符合产品工程图；符合实际装配。 MA 钢尺或游标卡尺 3 电性 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。 分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。 碳膜电阻误差值：±5% MA LCR电桥 4 可焊性 用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的 颜色不发生变化。 MA 烙铁 小锡炉 5 材料 所用材料与样品相符。 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。 外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。 MA 目测、对比样品 刀片 6 包装标识 包装材料用料正确。 2、小包装方式、数量无误。 装箱方式、数量无误。 4、（内包装、外箱）标识单内容正确。 MA 目测 拟制： 审核： 批准： 日期 日期 日期  来料检验标准 版 本：第三版 文件编号：WI/HV-12-002 受控状态： 金属膜电阻类 修 改 页： 第 2 页 共 53 页 抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65 MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷 序号 检验 项目 检 验 标 准 及 要 求 AQL 检验方法 1 外观 色环标识 色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。 MI 目测 元件体 电阻有无破损，引脚是否氧化。 MI 目测 2 尺寸 符合产品工程图。 MA 钢尺或游标卡尺 3 电性 室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。 分别在75℃、-5℃以下、湿度93％±3％、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。 MA LCR电桥 4 3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。 4. 金属膜电阻误差值±1％ CR 5 可焊性 用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。 MA 烙铁 小锡炉 6 材料 所用材料与样品相符。 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。 MA 目测、对比样品 7 包装标识 包装材料用料正确。 小包装方式、数量无误。 装箱方式、数量无误。 （内包装、外箱）标识单内容正确。 MI 目测 拟制： 审核： 批准： 日期 日期 日期 来料检验标准 版 本：第三版 文件编号：WI/HV-12-003 受控状态： 氧化膜电阻 修 改 页： 第 3 页 共 53 页 抽样来料检验标准： 依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0 MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷 序号 检验 项目 检 验 标 准 及 要 求 AQL 检验方法 1 外观 丝印 色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。 MI 目测 元件体 电阻有无破损，引脚是否氧化。 MI 目测 2 尺寸 外形尺寸是否符合产品工程图。 MA 钢尺或游标卡尺 3 电性 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz； 分别在75℃、-5℃、湿度93％±3％、100CM 高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围 CR LCR电桥 4 材料 所用材料与样品相符 MA 目测、对比样品 5 包装标识 包装材料用料正确。 小包装方式、数量无误。 装箱方式、数量无误。 （内包装、外箱）标识单内容正确。 MI 目测 拟制： 审核： 批准： 日期 日期 日期 来料检验通用标准 版 本：第三