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RF 基本观念简介(F5)
開場白 運氣好,遇到神。但是卻常常碰到鬼。 Agenda 基礎微波概念 Wireless 基本概念 SMT對RF信號的影響 架設治具注意事項 電源對 RF calibration的影響 基礎微波概念 *Confidential RF 基本觀念簡介 Editor: Masou Chang Nov. 7, 2010 電磁學 = 神學 不知道原理, 認為 RF 很多不確定性 不知道原理, 所以不知道從何處下手解決 用簡單理論來說明產線 RF 觀念 S-參數介紹 S11 : Port1 的反射係數(Return loss at port1) S21 : 正向穿透係數(Insertion loss at port1) S22 : Port2 的反射係數(Return loss at port2) S12 : 反向穿透係數(Insertion loss at port2) Note : S參數主要是由magnitude與Phase 所組成。可由VNA量測得到。 當反射能量越多時(S11,S22),相對的穿透能量(S21,S12)也會變少,意即cable loss會增加。 S11(or S22)反射能量越多時,代表RF cable兩端的阻抗(impedance)不匹配,能量無法傳遞出去。 如何改善反射能量(S11) 的影響,加3dB衰減器or 更大的衰減器,如圖所示(當buffer)在最靠近板端的地方即可。 影響S參數的因素有: (a)接頭沒鎖緊。(b)RF cable 的GND 在cable 接頭處斷裂。(c) RF 接頭磨損。 S參數的穩定性,隨著頻率越高,越不穩定。意即頻率越高,意即900MHz的S參數穩定,並不代表2.1GHz的S參數是穩定的。高頻的穩定性比較不好。 Port 1 Port 2 Pin Pout Note : RF cable loss是隨頻率而變化。頻率越高,cable loss 越大。( L = jwL,C = 1/jwC,w = 2pf ,f : 頻率) 。 GND 的好壞對RF影響極大,如上圖。GND接觸不好或接頭附近的GND金屬網斷裂,則會影響RF cable上的電容值,造成RF cable 的不穩定。最害怕的是,GND金屬網,一半斷掉,一半沒斷,這時候量出來的S參數就會很不穩定。這一點,是常常造成測試不穩定的主因。 對於RF 傳輸線上的每一個接頭或連接處,都要確定鎖好,鎖穩定;意即GND有接好。 RF Cable或衰減器(Attenuator)的老化,也需確定清楚。 要隨時注意RF cable 接頭的好壞。 手拿RF cable ,請不要去甩動RF cable,否則極容易造成接頭處的GND金屬網斷裂。 GND GND 儀器 待測物 Pin Pout RF cable介紹 鐵氟龍材質 此處的GND最易斷裂 L L L C C C C RF cable的電氣模型 :#電感(L) ,電容(C) 為何需要用扭力版手鎖RF接頭 正常使用扭力板手 鎖過頭 RF接頭如果鎖過頭,在這部份容易產生不確定性干擾,造成量測的誤差。 鎖不緊 Wireless基本概念 +Q -Q(Inner) +Q(outer) +Q(Noise) Metal shell(thick) (A)Bad ?No GND ?Thick metal +Q -0.7Q(Inner) Metal shell(thinner) +0.3Q( Lower Noise) GND (B)Bad ? GND ? Thin metal Metal shell(thick) +Q -Q(Inner) No noise radiate GND (C)Good ? GND ? Thick metal Note : 要利用金屬片來貼附,用來增加shielding box的隔離度時,要確認金屬片與shielding box的GND是否有完全接觸(注意: 不是單點皆處即可,要有足夠的接觸面積)。 Shielding box的所有介面接頭,需要接50歐姆的終端電阻(termination),來增加shielding box隔離度。. 概念一 : 金屬對遮蔽效應的影響 好的遮蔽效應 概念二 : Shielding box 內的GND對電磁波的影響 Note : Path1的能量是我們想要的,其他路徑的Path( Path2,path3,path4 )能量是不想要的。 只要有金屬平面(or 金屬平面),都會造成電磁波的反射。所以不要隨便貼附銅箔片或金屬片在shielding box內部,會產生電磁玻不確定的反射,造成多重路徑干擾,增加量測的不穩定。案例: 在DVT run,貼金屬財編在shielding box 內的治具,造成3dB的誤差。 S
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