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电气绝缘测试技术 第三章 电容相对介电常数及损耗因数的测量 复习内容 一、纯电感电路 电压与电流的关系： 由上式可知： （1）Um=?LIm 即 线圈电感L越大，交流电频率越高，则?L的值越大，也就是对交流电流的阻碍作用越大，我们把这种“阻力”称作感抗，用XL代表。 XL=?L=2?fL （2）电感两端电压超前电流相位90?（或?/2弧度） （a）波形图 (b) 相量图 (c) 瞬时功率图 图1 纯电感电路的波形图与相量图 电容器的电容C越大，交流电频率越高，则1/?C越小，也就是对电流的阻碍作用越小，我们把电容对电流的“阻力”称作容抗，用XC代表。 XC与电容C和频率f成反比。当C一定时，电容器具有隔直通交的特性，当f=0时，XC=∞，此时电路可视作开路，即“隔直”作用。 二、纯电容电路 电压与电流的关系： （1）Im=?Cum 即 （2）电容的电流与它的端电压是同频率的正弦量，电流超前于电压90?。 （a）波形图 （b）相量图 （c）瞬时功率图 图2 纯电容电路的波形图与相量图 第一节 概述 相对介电常数和介质损耗因数是电介质与绝缘体的两个主要特性。 在不同应用场合下，对这两个特性的要求也不同，用于储能元件，要求相对介电常数要大，使单位体积中的储能大；在用于一般绝缘体时，要相对介电常数小，以减小流过的电容电流。 在一般电气设备中用的电介质和绝缘体，都要求损耗因数小，因为损耗因数大，不但消耗浪费电能，而且使介质发热，容易造成老化或损坏，这在工作电场强度高、电压频率高的条件下尤为突出。 为了检验评定电工设备、元件的性能，选择合适的绝缘材料，就必须对其相对介电常数或电容、损耗因数进行测量。 一、相对介电常数(电容率) 相对介电常数εr 是在同一电极结构中，电极周围充满介质时的电容CX 与周围是真空的电容 C0 之比，即 若电极为平行板电极，则 式中：A—电极面积（m2）; t—电极间距离（m）； 测量εr实际上是测量电容 CX 及电极、试品有关的尺寸。 在标准大气压下，干燥空气的相对介电常数为1.0053，因此工程上可以用空气电容代替真空电容 C0，C0 称为几何电容。 绝对介电常数 在工程上，材料通常用相对介电常数来 描述，而为了便于叙述，“相对”两字有时省略，简称为介电常数。 二、损耗因数 介质损耗因数是试品在施加电压时所消耗的有功功率与无功功率的比值，若绝缘体或介质本身没有损耗，则在电场中通过它的电流与它两端的电压相位差为 90°。 若有损耗则相位差为90°-δ，如图3所示。δ 为介质损耗角，介质损耗角的正切 tanδ即为介质损耗因数。 图3 介质损耗角示意图 图3 介质损耗角示意图 图3 试品的等效阻抗 a) 并联 b)串联 用电路的概念来描述，可以把介质损耗的绝缘体看成是电容和电阻并联或串联的等效阻抗，如图3所示。 对于并联等效阻抗 对于串联等效阻抗 式中 CP、CS—分别为并联、串联等效阻抗中的电容； RP、RS—分别为并联、串联等效阻抗中的电阻； ω—电压角频率。 实际上介质损耗是很微小的，一般不能普通的功率表来测损耗因数，而是把试品视为上述的等效阻抗，测得 1/(ωCPRP)或 ωCsRs 以求得试品的tanδ。 测得 1/(ωCPRP)或 ωCsRs 以求得试品的tanδ。 图3 试品的等效阻抗 a) 并联 b)串联 上述等效电路是表示有损介质的一种电路模型，采用哪种等效电路由具体的问题确定，如果损耗主要由电导引起，一般应用并联等效电路；如果损耗主要由介质极化及连接导线的电阻引起，则常用串联等效电路。 对于tanδ两者完全等效，即 同一电介质用不同的等效电路表示时，其等效电容和电阻不相等。 三、影响相对介电常数与介质损耗因数的因素 1、电压幅值 一般情况下，相对介电常数及损耗因数与施加的电压幅值无关；若有夹层极化，在高场强下将会使相对介电常数及损耗因数增大；若在绝缘体中有气泡，在电压超过起始放电电压后，测得的相对介电常数及损耗因数都会增大。 2、频率 各种极化过程都需要一定时间，若这时间比交变电场的周期长得多时，这种极化就来不及完成，相对介电常数就变小，如图4所示，频率低时，各种极化都存在，所以 εr 就大，而频率高时，夹层极化、偶极子极化可能来不及完成，只剩下电子极化、原子极化，所以 εr就小了。 电介质的极化：电介质在电场作用下，其