晶硅太阳能电池光致衰减问题讨论概念.ppt

光伏组件输出功率光致衰减问题的讨论 张光春 陈如龙 孙世龙 李剑 蒋仙 温建军 高瑞 施正荣 无锡尚德太阳能电力有限公司 报告内容提要 　引言 （一）P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 （二）P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 （三）光伏组件的初始光致衰减试验 （四）光伏组件输出功率初始衰减问题的解决方案 引言 光伏组件输出功率的衰减可分为两个阶段： 第一个阶段，我们可以把它称作初始的光致衰减，即光伏组件的输出功率在刚开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降，但随后趋于稳定。导致这一现象发生的主要原因是P型（掺硼）晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。 第二个阶段，我们可以把它称作组件的老化衰减，即在长期使用中出现的极缓慢的功率下降，产生的主要原因与电池缓慢衰减有关，也与封装材料的性能退化有关。 引言 为什么光致衰减现象又被关注： P型(掺硼)的太阳电池的光致衰减现象是在七十年代发现的，为什么近期光伏产业界和研究机构又对此产生了较大的关注呢？其主要原因是由于光致衰减导致的一些光伏组件的功率下降幅度远远超出了客户所能接受的范围，这就使组件制造商面临着潜在的赔偿风险。 引言 导致光伏组件功率出现早期下降的主要原因有： （一）硅片质量差，导致电池出现较大幅度的初始光致衰减； （二）组件制造工艺不合理，出现诸如电池片隐裂、EVA交联度不好、脱层、焊接不良等质量问题． （三）些组件制造商功率测试不准确或有意在输出功率上虚报。 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 大家基本一致的看法是： 光照或电流注入导致硅片中的硼和氧形成硼氧复合体，从而使少子寿命降低，引起电池转换效率下降，但经过退火处理，少子寿命又可被恢复，其可能的反应为： 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 据文献中报道： （一）含有硼和氧的硅片经过光照后出现不同程度的衰减（如图2、图3、图4所示）。硅片中的硼、氧含量越大，在光照或电流注入条件下产生的硼氧复合体越多，少子寿命降低的幅度就越大。 (二）在低氧、掺镓、掺磷的硅片中少子寿命随光照时间的衰减幅度极小。 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 一. P型(掺硼)晶体硅太阳电池初始光致衰减机理 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 (一）P型（掺硼）单/多晶硅片少子寿命的光致衰减试验 １．原始硅片的光致衰减试验 硅片不做任何处理，测试光照前和光照后的少子寿命。 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 ２．表面钝化硅片的光致衰减试验 去除硅片损伤层＋硅片清洁+硅片表面钝化（碘酒），测试光照前和光照后的少子寿命。 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 ３．表面钝化硅片的光致衰减及退火恢复试验 将这些光照衰减后的硅片进行退火处理，硅片的寿命得到很大程度的恢复。这和文献中的报道是一致的，如图7所示。 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 （二）．P型（掺硼）单/多晶硅太阳电池的初始光致衰减试验 １．未封装的单晶硅单体太阳电池的初始光致衰减试验 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 ２．未封装的多晶硅单体太阳电池的初始光致衰减试验 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 ３．光照前后电池片的量子效率对比 光照后，长波响应变差，这表明光照后电池片体内的少子寿命已发生了衰减。 二. P型(掺硼)晶体硅片少子寿命及太阳电池光致衰减试验 ４．电池片光照后的退火处理 选取不同衰减程度的电池片进行退火处理，效率也得到很大程度的恢复，这和文献中的报道一致。 当前硅片质量的状况： 三．光伏组件的初始光致衰减试验 光伏组件的核心组成部分就是太阳电池，如果太阳电池的性能发生率减，就必然导致光伏组件的输出功率下降，并极易在组件中引起热斑. 若电池串与串之间电流不一致，在接了旁路二极管的组件特性曲线上可看到“台阶曲线”。 通过测量光照前后组件的输出特性曲线和红外成像分析,可以考察组件的初始光致率减现象． 三．光伏组件的初始光致衰减试验 （一）正常组件的输出特性曲线及红外成像 三．光伏组件的初始光致衰减试验 （二）组件光照后，输出特性曲线及红外成像 如果电池的衰减基本一致，尽管输出功率下降，但I-V曲线还是正常的，也无热斑出现，其曲线和红外图像与正常组件类似。 如果电池的衰减不一致，将导致I－V曲线出现台阶，如图15所示 三．光伏组件的初始光致衰减试验 c. 有热斑组件的红外成像 对于出现台阶曲线的