45纳米创新挑战-YMSMagazine.PDF

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2017-06-06 发布于天津
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yield management ymssolutions /ymsmagazine | 年夏第期 2007 2 文章主题缺陷管理测量代工厂经济掩膜版数据存储产品新闻 45 纳米创新挑战本期杂志刊载了一系列有关纳米检测与测量的文章，包括从最 YMS 45 新的掩膜版检测技术到与专业测量晶片应用相关的独特个案 1 2 目录 3 4 5 6 7 8 3 一种用于确定抛光硅晶片上影响成品率的较大缺陷的新方法 9 Hynix Semiconductor Corporation 与KLA-Tencor Corporation 10 11