JyeJiang公司简介.ppt

* 捷將科技 檢查機的誕生 捷將企業集團成立於1991年。 初期專營工廠及學術單位實驗室之各型檢驗、檢查設備。 長期與客戶的接觸中，讓我們深刻感受到客觀且一致性的品管標準，對提升企業的競爭力有多重要，自此致力於自動化檢查設備的研發。 自1996年以來針對各型基材陸續研發完成各型檢測系統 。 1996 2002 2005 2007 1991 經營各型工廠及學術單位 實驗室設備 初期 階 段 發 展 製程分析 生產管理 遠方控管 檢測領域 研發完成 Dos檢查系統 進入 研發完成 Windows 檢查系統 Window Window系統 全面改版升級 全面昇級 Window 整廠資訊 的整合 願景 檢測產品介紹 項目 精度 片式 捲裝 面數 瑕疵名稱 玻纖布 0.1mm ● 1 經破、緯破、破孔、布污、裁邊不良 含浸基材 0.1mm ● ● 1或2 雜質、凸粒、魚目、破絲 PI 銅箔 0.05mm ● 2 銅面: 墊傷、折皺、短刮、雜質、針孔、刮傷 PI面: 殘膠、折皺、刮傷、氣泡、裂痕、雜質 銅箔 0.05mm ● 3 墊傷、刮傷、褶皺、短刮、針孔、粒銅、週期、蚊蟲、結晶、雜質 背膠銅箔 0.05mm ● 2 銅面: 墊傷、折皺、短刮、雜質、針孔、刮傷 膠面: 缺膠、折皺、刮傷、氣泡、裂痕、雜質 銅箔基板 0.05mm ● 2 雜質、墊傷、亮凹、亮點、皺紋、針孔、刮傷、紅斑、銅粒、裁剪不當、組合不齊 ITO玻璃 10μm ● 1 Particle?Bubble?Scratch?Mura?Edge Chip?Pinhole 膠膜/鋁箔 0.05mm ● 1 魚目、刮傷(scratch)、針孔、殘膠、雜質 金屬板 0.1mm ● 1或2 脫皮、墊傷、油污、刮傷 檢測流程示意圖 捲裝系統示意圖 正面CCD 流動方向 檢測站 正面光源 背面光源 背面CCD Labeling 捲對片系統示意圖 正面CCD 分級站 流動方向 檢測站 A級 裁切區 正面光源 背面光源 螢幕顯示 背面CCD B級 PASS NG 片裝系統示意圖 正面CCD 分級站 流動方向 檢測站 A級 分裝區 正面光源 背面光源 螢幕顯示 待測板材 B級 PASS NG 完整的使用者介面 紀錄查詢 CCD資訊 瑕疵分布圖 瑕疵分類圖示 檢測進度 瑕疵分佈統計 即時瑕疵影像 警示燈號 動作切換 本批產品資訊 1.CCD資訊：即時監看各CCD取得的畫面。 2.瑕疵分布圖：顯示檢測物全米數的瑕疵位置對應圖，以不同瑕疵類別給予不同瑕疵圖示。 3.瑕疵分類圖示：顯示目前瑕疵的分類和檢出各瑕疵類別。 4.檢測進度：顯示產線檢測進度百分比。 5.瑕疵分佈統計：目前檢測至前十米的瑕疵分佈圖示。 6.即時瑕疵影像：顯示最近八個瑕疵影像。 7.警示燈號：檢測瑕疵警示燈。 8.動作切換：簡易的操作介紹，檢測閞始、停止、換梱。 9.本批產品資訊：本批產品的詳細訊息，如瑕疵數量、產品尺寸、生產時間、生產速度等。 10.紀錄查詢：對每次表面瑕疵檢測結果均會存檔，內容包括瑕疵影像、瑕疵明細、數據報表、統計圖表、瑕疵位置對應圖表等，可以追蹤製程條件進而提升良率。 系統介紹 項目 說明 攝像頭 線型掃瞄相機，搭配獨立嵌入式影像處理卡直接分析瑕疵影像，處理速度快，不易發生故障。由於影像處理卡採獨立設計，日後維修更新較為方便，不需整組攝影機做更換。另外還有市面上唯一的彩色掃描相機可做選擇。 影像運作單元 SIPPIS即時檢測系統，透過嵌入式影像處理卡(DSP+FPGA)同步處理CCD所擷取之即時影像，處理速度為以前2倍(180Mhz)以上；系統單純，主機僅做資料蒐集，提供各類產品瑕疵資訊及報表，不做任何影像處理運算；系統為本公司配合客戶使用需求自行研發，讓使用者使用更加方便。 系統介紹 設備結構 設備系統單純，由CCD、獨立影像處理卡、主機及電控箱所組成。 設備可靠度 透過CCD擷取影像並同步搭配影像處理卡做及時影像處理，影像處理卡內建影像處理程式，資料數據無須經由PC系統，故檢測速度快且檢測品質穩定。 燈源 使用LED燈，LED燈有使用壽命長(壽命約為30000小時以上)、光源照射平均不閃爍等螢光燈無法做到之優點。螢光燈頻率為80Hz，由於其閃爍特性只適用於低速檢查，於高精度檢出無法使用。 系統介紹 操作 主機系統為全WINDOWS介面，操作畫面簡潔利於線上人員操作，並依需求提供簡繁體中文/英文/日文等語言設定。 重要設備及相關零組件 檢測系統(包含軟/硬體)皆由捷將公司所研發設計並在台灣生產，更新維修速度快。 設備工作原理 透過CCD擷取影像並同步搭配影像處理卡做及時影像處理，工作站主機單純負責蒐集彙整資料並提供各式報表，整體檢測速度快且穩定以利隨時掌握生產品質。檢測系統(包含軟/硬體)