半导体物理及器件课后习题1.doc

习题1 1.1 确定晶胞中的原子数：（a）面心立方；（b）体心立方；(c)金刚石晶格。 解：（a）面心立方： 8个拐角原子×=1个原子 6个面原子×=3个原子 面心立方中共含4个原子 （b）体心立方：8个拐角原子×=1个原子 1个中心原子 =1个原子 体心立方中共含2个原子 （c）金刚石晶格：8个拐角原子×=1个原子 6个面原子× =3个原子 4个中心原子 =4个原子 金刚是晶格中共含8个原子 1.15 计算如下平面硅原子的面密度：（a）（100），（b）（110），（c）（111）。 解：(a):（100）平面面密度，通过把晶格原子数与表面面积相除得： 面密度== (b):(110)表面面密度== (c):(111)表面面密度== 1.19（a）如果硅中加入浓度为2×/的替位硼杂质原子，计算单晶中硅原子替位的百分率。（b）对于浓度为/的硼杂质原子，重新计算（a） 解：（a）：硅原子的体密度 硅原子替位百分率= （b）同理：硅原子替位百分率= 习题2 3.14 图3.35所示色E-k关系曲线表示了两种可能的价带。说明其中哪一种对应的空穴有效质量较大。为什么？ 解：图中B曲线对应的空穴有效质量较大  空穴的有效质量： 图中曲线A的弯曲程度大于曲线B 故 3.16 图3.37所示为两种不同半导体材料导带中电子的E-k关系抛物线，试确定两种电子的有效质量（以自由电子质量为单位）。 解：E-k关系曲线k=0附近的图形 近似于抛物线故有： 由图可知 ①对于A曲线 有 ②对于B曲线有 3.20 硅的能带图3.23b所示导带的最小能量出现在[100]方向上。最小值附近一维方向上的能量可以近似为 其中是最小能量的k值。是确定时的粒子的有效质量。 解：导带能量最小值附近一维方向上的能量 当时 ； 又 时粒子的有效质量为： 3.24 试确定T=300K时GaAs中之间的总量子态数量。 解：根据 当T=300K时 GaAs中之间总量子态数量： 3.37 某种材料T=300K时的费米能级为6.25eV。该材料中的电子符合费米-狄拉克函数。（a）求6.50eV处能级被电子占据的概率。（b）如果温度上升为T=950K，重复前面的计算（假设不变）.(c)如果比费米能级低0.03eV处能级为空的概率是1%。此时温度为多少？ 解：根据费米-狄拉克分布函数： 在6.50eV处能级被电子占据的概率： （b）温度上升为950K时 6.50eV能级被占据概率： （c）有题意可知比费米能级低0.3eV处能级为空的概率为1%，即被占据的概率为99% 故此时温度为757K 习题4 4.14 假设某种半导体材料的导带状态密度为一常量K,且假设费米-狄拉克统计分布和波尔兹曼近似有效。试推导热平衡状态下导带内电子浓度的表达式。 解：令常数，则： 设则 上式可写为 4.22 (a)考虑T=300K时的硅。若求 (b)假设(a)中的保持不变，求T=400K时的值 (c)求出(a)与(b)中的 解：当T=300K时，硅的 则 (b)当T=300K时，硅中 当T=400K时 则： (c)由(a)得: 对（b）有： 习题四（2） 4.34 已知T450K时的一块硅样品，掺杂了浓度为的硼和浓度为的砷。（a）该材料时n型半导体还是p型半导体？(b)计算电子的浓度和空穴的浓度。(c)计算已电离的杂质浓度。 解：T=450K时 对于硅： 空穴浓度： 电子浓度: (c) ; 450K时为强电离区故 从而已电离的杂质浓度为 4.51(a)T300K时硅中掺杂了浓度为的磷原子，确定硅的费米能级相对于本征费米能级的位置。(b)假如加入的杂质换为浓度为的硼原子重复（a）.（c）分别计算与中的电子子浓度。 解：（a）: 即