DDR测试系列之三——SDRAM时钟分析案例.pdfVIP

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  • 2017-06-09 发布于河南
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DDR测试系列之三——SDRAM时钟分析案例.pdf

DDR测试系列之三——SDRAM时钟分析案例

DDR 测试系列之三 —— 某SDRAM时钟分析案例 张昌骏 美国力科公司深圳代表处 前个周末接到了一个朋友的电话,询问我如果内存有问题,需要测试哪些项目?对于这 个很常见的问题,我习惯性的回答他先测量内存时钟和读写时序看看,然后结束了通话。没 过一会,我那朋友又打过来,告诉我他遇到一个怪事,他用探头点测内存时钟时,系统的程 序不卡了,可以顺利启动并运行。听到这个描述,我顿时感兴趣了,开始仔细询问待测试的 电路和测试仪器。 待测试的电路板的内存控制器为 A 公司的 ARM 架构的 MCU ,内存为 Micron 的 SDRAM,内存时钟频率为 100MHz,测试仪器为某 200M 带宽示波器,探头为示波器标配 的无源探头。在以往的探头培训中,我曾多次给客户讲探头的重要性,在我的幻灯片中有以 下几句话: 在把探头连接到电路上时,可能会发生下面三种情况: 1. 您可以把实际波形形状传送到示波器屏幕上。 2. 探头可能会改变波形形状,您会在示波器上观察到不同形状的信号。

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